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检测项:偏二氯乙烯 检测样品:食品接触材料 标准:BS EN 13130.5-2004 与食品接触的材料和物品-受限制的塑料物质,食品模拟物中偏二氯乙烯的测定
检测项:偏二氯乙烯 检测样品:食品接触材料 标准:BS EN 13130.6-2004 与食品接触的材料和物品-受限制的塑料物质,塑料中偏二氯乙烯的测定
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:偏二氯乙烯单体 检测样品:药品包装材料和容器 标准:国家食品药品监督管理局国家药品包装容器(材料)标准(试行):偏二氯乙烯单体测定法YBB00152003(国家食药监局药包材检验方法标准汇编第三辑)
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:聚氯乙烯/聚乙烯/聚偏二氯乙烯固体药用复合硬片 检测样品:药品包装材料与容器 标准:国家药品包装容器(材料)标准(试行)YBB00202005
检测项:聚氯乙烯/聚偏二氯乙烯固体药用复合硬片 检测样品:药品包装材料与容器 标准:国家药品包装容器(材料)标准YBB00222005
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:聚偏二氯乙烯(PVDC)自粘性食品包装膜 标准:聚偏二氯乙烯(PVDC)自粘性食品包装膜 GB/T 24334-2009
检测项:部分项目 检测样品:食品包装用聚偏二氯乙烯(PVDC)片状肠衣膜 标准:食品包装用聚偏二氯乙烯(PVDC)片状肠衣膜 GB/T 17030-2008
检测项:部分项目 检测样品:聚偏二氯乙烯(PVDC)涂布薄膜 标准:聚偏二氯乙烯(PVDC)涂布薄膜 BB/T 0012-2008
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>
检测项:高温反偏 检测样品:半导体分立器件筛选 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
检测项:高温反偏 检测样品:半导体分立器件筛选 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:偏二氯乙烯迁移量 检测样品:食品接触材料 标准:接触食品的材料和物品.受限制的塑料物质 第5部分:食品模拟物中的偏二氯乙烯的测定 BS EN 13130-5:2004
检测项:偏二氯乙烯 检测样品:食品接触材料 标准:接触食品的材料和物品 受限制的塑料物质 第6部分:塑料中偏二氯乙烯的测定 BS EN 13130-6:2004
检测项:全部参数 检测样品:食品接触材料 标准:食品容器、包装材料用偏氯乙烯-氯乙烯共聚树脂卫生标准 GB 15204-1994
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:全部参数 检测样品:食品容器、包装材料用偏氯乙烯-氯乙烯共聚树脂 标准:食品容器、包装材料用偏氯乙烯-氯乙烯共聚树脂卫生标准 GB 15204-1994
检测项:火位测量 检测样品:打火机 标准:打火机安全规范 ISO 9994:2005
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:非接触IC卡邻近卡fc/64,fc/32和fc/16位速率的射频功率和信号接口 检测样品:集成电路(IC)卡 标准:ISO/IEC 14443-2:2001/ Amd.1:2005 识别卡-非接触集成电路卡-邻近卡-第2部分:射频功率和信号接口 补充版1:fc/64,fc/32和fc/16位速率
检测项:非接触IC卡邻近卡fc/64,fc/32,fc/16位速率的初始化和防碰撞 检测样品:集成电路(IC)卡 标准:ISO/IEC 14443-3:2001/ Amd.1:2005 识别卡-非接触集成电路卡-邻近卡-第3部分:初始化和防碰撞 补充版1:fc/64,fc/32和fc/16位速率
检测项:fc/64,fc/32和fc/16位速率 检测样品:射频识别标签芯片 标准:ISO/IEC 14443-2:2001/ Amd.1:2005 识别卡-非接触集成电路卡-邻近卡-第2部分:射频功率和信号接口 补充版1:fc/64,fc/32和fc/16位速率
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:回差试验 检测样品:温度指示 调节仪 标准:《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪》 GB/T13639-2008 《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪 第1部分:两位或多位输出仪表》 JB/T8386.1-1996
检测项:零点误差 检测样品:温度指示 调节仪 标准:《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪》 GB/T13639-2008 《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪 第1部分:两位或多位输出仪表》 JB/T8386.1-1996
检测项:轻敲位移试验 检测样品:温度指示 调节仪 标准:《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪》 GB/T13639-2008 《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪 第1部分:两位或多位输出仪表》 JB/T8386.1-1996
机构所在地:浙江省乐清市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996