中频输入电平范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

搜索条件所在地区: 所属类别:

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入高电平电流检测样品：TTL集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：输入低电平电流检测样品：TTL集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：输入高电平电流检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

机构所在地：江苏省扬州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

检测项：输入输出电平检测样品：声频功率放大器※ 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件 SJ/T 10406-1993

检测项：最大输入电平检测样品：声频功率放大器标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993

检测项：最小输入电平检测样品：声频功率放大器标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993

机构所在地：湖南省长沙市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中兴通讯股份有限公司手机检测中心

检测项：最大输入电平检测样品：移动通讯终端标准：《电磁兼容实验和测量技术静电放电抗扰度实验》 GB/T 17626.2-2006

检测项：最大输入电平检测样品：移动通讯终端标准：《移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法》YD/T 1539-2006

检测项：参考性能的最小输入电平检测样品：移动通讯终端标准：《建议对于CDMA2000高速率分组业务终端的最小性能标准》 3GPP2 C.S0033-C Version: 1.0 （2011-1）

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入低电平电流检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输入高电平电流检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输入低电平电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入高电平电流(IIH) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入低电平电流（IIL）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出高电平电压（VOH）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
浙江省通信产业服务有限公司通信网络设备检测中心

检测项：最大允许输入电平检测样品：直放站标准：900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网数字直放站技术要求和测试方法 YD/T 2355-2011

检测项：自动电平控制（ALC)范围检测样品：直放站标准：900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网数字直放站技术要求和测试方法 YD/T 2355-2011

检测项：输入、输出电压驻波比检测样品：标准：

机构所在地：浙江省杭州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：TTL 电路测试标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

机构所在地：辽宁省沈阳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京尊冠科技有限公司

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
青岛市电子仪表计量检测站

检测项：多射频输入信号最大有用电平检测样品：数字电视液晶显示器标准：数字电视液晶显示器通用规范 SJ/T 11343-2006 数字电视平板显示器测量方法 SJ/T 11348-2006 电视广播接收机红外遥控部

检测项：多射频输入信号最大有用电平检测样品：数字电视液晶显示器标准：数字电视液晶显示器通用规范 SJ/T 11343-2006 数字电视平板显示器测量方法 SJ/T 11348-2006 电视广播接收机红外遥控部分的技术要求和测量方法SJ/T 10514-1994 电视广播接收机测量方法第1部分：一般考虑射频和视频电性

检测项：骚扰功率检测样品：电工电子产品电磁兼容标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB17625.1-2003/ IEC61000-3-2:2001

机构所在地：山东省青岛市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

熔点

简介

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

检测项目

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

中兴通讯股份有限公司手机检测中心

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

浙江省通信产业服务有限公司通信网络设备检测中心

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

湖南航天管理局计量检测中心

北京尊冠科技有限公司

青岛市电子仪表计量检测站

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务