伴音载波电平可调范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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上海机动车检测中心

检测项：传导充电系统一般要求检测样品：电动汽车标准：《电动车辆的电磁场辐射强度的电平值和测量方法，150kHz~30MHz》 SAE J551-5:2012

检测项：汽车后视镜的安装要求检测样品：汽车标准：《汽车驾驶员视野范围》 JIS D0021-1998

检测项：辐射抗扰度检测样品：汽车标准：《道路车辆由窄带辐射电磁能产生的电气骚扰的车辆试验方法第1部分：总则和术语》 ISO 11451-2:2005

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深圳市信息安全测评中心（深圳市信息工程质量监督检验站）

检测项：铜缆等电平远端串音检测样品：综合布线系统(电气性能）标准：《综合布线系统工程验收规范》GB 50312-2007 附录C

检测项：铜缆等电平远端串音功率和检测样品：综合布线系统(电气性能）标准：《综合布线系统工程验收规范》GB 50312-2007 附录C

检测项：可选属性范围限定检测样品：综合布线系统(电气性能）标准：《综合布线系统工程验收规范》GB 50312-2007 附录B

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湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

检测项：输入输出电平检测样品：声频功率放大器※ 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件 SJ/T 10406-1993

检测项：最大输入电平检测样品：声频功率放大器标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993

检测项：最小输入电平检测样品：声频功率放大器标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993

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北京市电子产品质量检测中心

检测项：等电平远端串音（ELFEXT）检测样品：综合布线标准：信息技术用户建筑群通用布缆 GB/T 18233—2008 商务建筑电信标准 ANSI/EIA/TIA-568B：2000 综合布线系统工程验收规范

检测项：等电平远端串音功率和（PS ELFEXT）检测样品：综合布线标准：信息技术用户建筑群通用布缆 GB/T 18233—2008 商务建筑电信标准 ANSI/EIA/TIA-568B：2000 综合布线系统工程验收规范

检测项：动态电压瞬变范围检测样品：信息技术设备用不间断电源标准：信息技术设备用不间断电源通用技术条件 GB/T 14715—1993

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中兴通讯股份有限公司手机检测中心

检测项：最大输入电平检测样品：移动通讯终端标准：《电磁兼容实验和测量技术静电放电抗扰度实验》 GB/T 17626.2-2006

检测项：最大输入电平检测样品：移动通讯终端标准：《移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法》YD/T 1539-2006

检测项：参考性能的最小输入电平检测样品：移动通讯终端标准：《建议对于CDMA2000高速率分组业务终端的最小性能标准》 3GPP2 C.S0033-C Version: 1.0 （2011-1）

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输出高电平电压（VOH）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出低电平电压（VOL）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入高电平电流(IIH) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

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云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输出高电平电压检测样品：电子产品、军用装备标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出低电平电压检测样品：电子产品、军用装备标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：电子产品、军用装备标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

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中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

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青岛市电子仪表计量检测站

检测项：多射频输入信号最大有用电平检测样品：数字电视液晶显示器标准：数字电视液晶显示器通用规范 SJ/T 11343-2006 数字电视平板显示器测量方法 SJ/T 11348-2006 电视广播接收机红外遥控部

检测项：多射频输入信号最大有用电平检测样品：数字电视液晶显示器标准：数字电视液晶显示器通用规范 SJ/T 11343-2006 数字电视平板显示器测量方法 SJ/T 11348-2006 电视广播接收机红外遥控部分的技术要求和测量方法SJ/T 10514-1994 电视广播接收机测量方法第1部分：一般考虑射频和视频电性

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出高电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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