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检测项：部分项目 检测样品：音频设备 标准：IEEE Std 149-1979 (R2008)天线测试标准
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：天线增益 检测样品：移动通信天线 标准：移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008
检测项：天线增益 检测样品：天线 标准：IEEE天线测试标准流程 ANSI/IEEE Std 149-1979
检测项：开环电压增益 检测样品：电压比较器 标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项：增益 检测样品：电磁继电器 标准：GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范
检测项：开环电压增益 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
检测项：电源线尖峰信号(时域)传导发射 CE107 检测样品：军用设备、分系统和系统 标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB 152A-1997
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：增益误差EG 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项：开环电压增益 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：反向电流 检测样品：开关二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995
检测项：正向电压 检测样品：开关二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995
机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项：集电极-基极击穿电压V(BR)CBO 检测样品：二极管 标准：《半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995
检测项：发射极-基极击穿电压V(BR)EBO 检测样品：二极管 标准：《半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：最大增益及误差 检测样品：GSM直放站 标准：《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1337-2005
检测项：增益调节范围 检测样品：GSM直放站 标准：《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1337-2005
检测项：带外增益 检测样品：CDMA直放站 标准：《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1241-2002
机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项：增益 检测样品：射频同轴连接器 标准：GB/T 16850-1997 光纤放大器基本试验方法
检测项：增益斜率 检测样品：射频同轴连接器 标准：YD/T 640-2012 通信设备用射频连接器技术要求及检测方法
检测项：开销和维护信号测试 检测样品：SDH/PDH光传送设备 标准：GB/T 16712-2008 同步数字体系(SDH)复用设备功能块特性
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
