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检测项:Fe、Si、Ni、 Cu、Al、Mn、 Ti、Zn、Pb、 Zr、Be、Ce、Y、Nd 检测样品:镁及镁合金 标准:《镁及镁合金化学分析方法 第21部分:光电直读原子发射光谱分析方法测定元素含量》GB/T 13748.21-2009
机构所在地:河南省鹤壁市 更多相关信息>>
检测项:S 检测样品:钢铁材料 标准:钢铁 酸溶硅和全硅含量的测定 还原型硅钼酸盐分光光度法 GB/T 223.5-2008 钢铁及合金光电发射光谱分析法通则 G
检测项:Si 检测样品:钢铁材料 标准:钢铁 酸溶硅和全硅含量的测定 还原型硅钼酸盐分光光度法 GB/T 223.5-2008 钢铁及合金光电发射光谱分析法通则 G
检测项:P 检测样品:钢铁材料 标准:钢铁及合金化学分析方法 铋磷钼蓝光度法GB/T 233.59-2008 钢铁及合金光电发射光谱分析法通则 GB/T 14203-1993
机构所在地:河南省孟州市 更多相关信息>>
检测项:硅 检测样品:铝及铝合金 标准:《铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法》GB/T7999-2007 《铝及铝合金化学分析方法 第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》GB/T 20975.25-2008
检测项:锰 检测样品:铝及铝合金 标准:《铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法》GB/T7999-2007 《铝及铝合金化学分析方法 第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》GB/T 20975.25-2008
检测项:铬 检测样品:铝及铝合金 标准:《铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法》GB/T7999-2007 《铝及铝合金化学分析方法 第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》GB/T 20975.25-2008
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:元素含量 (光谱分析) 检测样品:紧固件: 螺栓 标准:GBT14203-1993 钢铁及合金光电发射光谱分析法通则GB/T4336-2002 碳素钢和中低合金钢 火花源原子发射光谱分析方法(常规法) GB/T11170-2008 不锈钢 多元
检测项:铜、铁、硅、镉、锰、锌、锡、铅、钛、钒、镍、硼、镁、锶、铬、钙、锑、镓、锆 检测样品:铝和 铝合金 标准:铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法 GB/T 7999-2007
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:化学元素分析 检测样品:金属材料 标准:GB/T 4336-2002《碳素钢中低合金钢 火花源原子发射光谱分析方法(常规法)》 GB/T 7999-2007 《铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法》 GB/T 11170-2008《不锈钢 多元素含量的测定 火花放电原子发射光谱法(常规法)》
机构所在地:浙江省绍兴市 更多相关信息>>
检测项:钢的光谱分析 检测样品:金属材料及其焊接接头 标准:1.GB/T14203-1993《钢铁及合金光电发射光谱分析法通则》2.GB/T4336-2002《碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析方法(常规法)》 3.GB/T11170-2008《不锈钢 多元素含量的测定 火花放电原子发射光谱法(
检测项:元器件 检测样品:音视频设备(安全) 标准:音频、视频及类似电子设备 安全要求 GB 8898-2011; IEC 60065:2001+A1:2005+A2:2010; EN 60065:2002 + A1:2006 + A11:2008+A2:2010+A12:2011; AS/NZS 6006
检测项:全部参数 检测样品:汽车前照灯 标准:ECE R99关于批准用于已获得型式批准的机动车气体放电灯具的气体放电光源的统一规定 GB 15766.1-2008 道路机动车辆灯泡尺寸、光电性能要求 ECE R37用已经批准的机动车和挂车灯具中的白炽灯的统一规定 GB25991-2010汽车用LED前
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:漏源通态电压(VDS(on)) 检测样品:光电 耦合器 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分
检测项:反向栅源漏电流(IGSSR) 检测样品:光电 耦合器 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分
检测项:零栅压漏极电流(IDSS) 检测样品:光电 耦合器 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分