山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：维持时间 检测样品：开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008

检测项：维持时间 检测样品：开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

四川省电子产品监督检验所/中国赛宝（四川）实验室/四川省软件和信息系统工程测评中心

检测项：寿命和光通维持率 检测样品：家用和类似用途插头插座 标准：家用和类似用途插头插座 第1部分：通用要求 GB2099.1-2008

检测项：光电参数（灯功率、功率因数、初始光效/光通量、颜色特征） 检测样品：自镇流灯 标准：普通照明用自镇流荧光灯 性能要求 GB/T17263-2002 IEC 60969:2000

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：维持电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：维持电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器 测试方法 SJ 2215.1～2215.14 -1982中的 SJ2215.2-82、 SJ2215.4-82 、SJ2215.5-82 、SJ2215.7-82、 SJ2215.8-82、 SJ2215.9-82 、SJ2215.10-8

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

杭州市质量技术监督检测院

检测项：全部参数 检测样品：发光二极管（LED） 标准：《LED的测量 》CIE127:2007 《半导体发光二极管测试方法》SJ/T11394-2009 《LED光源光通维持率的测量》IES-LM-80-08

检测项：全部参数 检测样品：发光二极管（LED） 标准：《LED的测量 》CIE127:2007 《半导体发光二极管测试方法》SJ/T11394-2009 《LED光源光通维持率的测量》IES-LM-80-08

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

深圳中航技术检测所

检测项：瞬变维持时间 检测样品：固定电阻器 标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器 第一部分：总规范

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：维持电流 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：粒子碰撞噪声检测试验 检测样品：电子元器件 标准：微电路试验方法和程序 GJB 548B—2005

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

厦门建霖工业有限公司实验室

检测项：安装位置维持 检测样品：软管 标准：弹性水连接装置 ASME A112.18.6-2009/CSA B125.6-09

检测项：安装位置维持 检测样品：软管 标准：弹性水连接装置 ASME A112.18.6-2009/CSA B125.6-09

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：集电极—发射极维持电压 检测样品：场效应管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：集电极—发射极维持电压 检测样品：场效应管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：维持电流 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：光通量 检测样品：发光二极管 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

检测项：光通量 检测样品：发光二极管 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>