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检测项:静态功耗 检测样品:时基 电路 标准:半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条
检测项:静态功耗 检测样品:电压 比较器 标准:半导体集成电路 电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:电功耗 检测样品:工业过程测量和控制系统用温度变送器 标准:工业过程测量和控制系统用温度变送器 第1部分:通用技术条件 GB/T 28473.1-2012 工业过程测量和控制系统用温度变送器 第2部分:性能评定方法 GB/T 28473.2-2012
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:待机功耗 检测样品:低压配电系统电涌保护器(SPD) 标准:电信和信号网络的电涌保护器(SPD)第1部分:性能要求和试验方法GB/T 18802.21-2004
检测项:功耗 检测样品:机电式 有功电能表 标准:《交流电测量设备 特殊要求 第11部分:机电式有功电能表(0.5、1和2级)》 GB/T17215.311-2008 《交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分:测量设备》GB/T17215.211-2006/ IEC62052-11:200
检测项:功耗 检测样品:静止式 有功电能表 标准:《交流电测量设备 特殊要求 第21部分:静止式有功电能表(1和2级)》 GB/T17215.321-2008/ IEC62053-21:2003 《交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分:测量设备》GB/T17215.211-2
机构所在地:浙江省乐清市 更多相关信息>>
检测项:温升试验及功耗测量 检测样品:家用及类似场所用过电流保护断路器 标准:电气附件 家用及类似场所用过电流保护断路器 第1部分:用于交流的断路器 GB 10963.1-2005 IEC 60898-1:2002 (A1:2002+A2:2003)
检测项:温升试验及功耗测量 检测样品:家用及类似场所用过电流保护断路器 标准:电气附件 家用及类似场所用过电流保护断路器 第1部分:用于交流的断路器 GB 10963.1-2005 IEC 60898-1:2002 +A1:2002+A2:2003
检测项:线圈功耗 检测样品:低压开关设备和控制设备 接触器和电动机起动器机电式接触器和电动机起动器(含电动机保护器) 标准:低压开关设备和控制设备 第4-1部分:接触器和电动机起动器机电式接触器和电动机起动器(含电动机保护器) GB14048.4-2010 IEC 60947-4-1:2009 +A1:2012
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:**辐射连续骚扰 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙射频测试规范1.2/2.0/2.0+EDR/2.1/2.1+EDR/3.0/3.0+HS/4.0 的测试结构(TSS)和测试目的(TP) 蓝牙低功耗 RF PHY测试规范:测试结构(TSS)和测试目的(TP)
检测项:**输出功率 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙射频测试规范1.2/2.0/2.0+EDR/2.1/2.1+EDR/3.0/3.0+HS/4.0 的测试结构(TSS)和测试目的(TP) 蓝牙低功耗 RF PHY测试规范:测试结构(TSS)和测试目的(TP)
检测项:**功率密度 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙射频测试规范1.2/2.0/2.0+EDR/2.1/2.1+EDR/3.0/3.0+HS/4.0 的测试结构(TSS)和测试目的(TP) 蓝牙低功耗 RF PHY测试规范:测试结构(TSS)和测试目的(TP)
机构所在地:广东省河源市 更多相关信息>>
检测项:静态功耗PD 检测样品:半导体集成电路(稳压器) 标准:1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
检测项:静态功耗PD 检测样品:半导体集成电路(电压比较器) 标准:1.SJ/T10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:全项目 检测样品:家用电器和办公室设备 标准:家用电器和办公室设备待机功率的测量方法 IEC 62301:2005 EN 62301:2005 IEC 62301:2011 (待机功率测试) EN 50564:2011 (低功耗测试)
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:静态功耗 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项:机械和物理性能 检测样品:玩具 标准:玩具安全--第1部分:有关机械和物理性能的安全方面 ISO 8124-1:2009
机构所在地:广东省惠州市 更多相关信息>>