内部目检（混合电路）检测实验

直接检眼镜

简介

直接检眼镜产品描述：通常由照明系统和观察系统组成。照明系统包括灯泡、聚光镜和反射镜。观察系统包括窥孔和聚焦补偿系统。直接检眼镜预期用途：用于检查视网膜。直接检眼镜品名举例：直接检眼镜、广角检眼镜直接检眼镜管理类别：Ⅱ 直接检眼镜相关指导原则： 1、直接检眼镜注册技术审查指导原则直接检眼镜相关标准： 1 ...查看详情>>

直接检眼镜

简介

直接检眼镜产品描述：通常由照明系统和观察系统组成。照明系统包括灯泡、聚光镜和反射镜。观察系统包括窥孔和聚焦补偿系统。

直接检眼镜预期用途：用于检查视网膜。

直接检眼镜品名举例：直接检眼镜、广角检眼镜

直接检眼镜管理类别：Ⅱ

直接检眼镜相关指导原则：
1、直接检眼镜注册技术审查指导原则

直接检眼镜相关标准：
1 . GB 9706.1—2007 医用电气设备第1部分：安全通用要求
2 . GB/T 14710—2009 医用电器环境要求及试验方法
3 . YY 1080—2009 眼科仪器直接检眼镜
4 . YY 0505—2012 医用电气设备第1—2部分：安全通用要求并列标准：电磁兼容要求和试验
5 . YY/T 0316—2016 医疗器械风险管理对医疗器械的应用
6 . ISO 15004-2:2007 Ophthalmic instruments -- Fundamental requirements and test methods -- Part 2: Light hazard protection
7 . 眼科手术器械基本要求和试验方法第2部分：光危害防护
8、YY 0634-2008 眼科仪器眼底照相机

收起百科↑ 最近更新：2023年04月27日

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中国北方车辆研究所测试中心

检测项：外部目检检测样品：集成电路标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

检测项：电磁兼容性检测样品：汽车标准：ECE R10-04关于就电磁兼容性方面批准车辆的统一规定

检测项：老炼检测样品：集成电路标准：GJB128A－97半导体分立器件试验方法方法1039

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：外部目检检测样品：集成电路筛选标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：输入失调电压检测样品：集成运放电路标准：半导体器件集成电路；第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

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检测项：内部观测特征检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：外部检查检测样品：电子元器件标准：GJB4027A-2006《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

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亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：内部目检检测样品：电子元器件/电工电子产品标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目1103 GJB 4027A-2006

检测项：内部目检检测样品：电子元器件/电工电子产品标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目1103 GJB 4027A-2006

检测项：外部目检检测样品：塑封微电子器件标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目1103 GJB 4027A-2006

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北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：内部目检检测样品：军用及民用标准件标准：《600℃高温高压管路快卸卡箍等卡箍系列标准》 GJB3821-1990

检测项：目检检测样品：印制板标准：《汽车GPS导航系统通用规范》GB/T19392-2013

检测项：外部目检检测样品：军用及民用标准件标准：《600℃高温高压管路快卸卡箍等卡箍系列标准》 GJB3821-1990

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广东省电子电器产品监督检验所

检测项：外部目检检测样品：发光二极管标准：半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006

检测项：外部目检检测样品：整流二极管标准：半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006

检测项：外部目检检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：外部目检检测样品：闸流晶体管标准：SJ/Z9014.3-1987半导体器件分立器件和集成电路第６部分：闸流晶体管

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检测项：输出高电平电压检测样品：TTL电路标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：外观目检检测样品：集成电路筛选标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：外观目检检测样品：集成电路筛选标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：DC/DC模块标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：外部目检检测样品：标准：

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检测项：控制端电压检测样品：数模混合集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

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检测项：动态参数检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查

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