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密度与相对密度（Density andrelative density） 密度是指物质单位体积内所含的质量，单位是百万克／米3 (Mg／m3)或千克／米3(kg／m3)或克／厘米3(g／cm3)。 相对密度是指物质的密度与参考物质的密度在各自规定的条件下之比。符号为d...查看详情>>
密度是指物质单位体积内所含的质量，单位是百万克／米3 (Mg／m3)或千克／米3(kg／m3)或克／厘米3(g／cm3)。
相对密度是指物质的密度与参考物质的密度在各自规定的条件下之比。符号为d，无量纲量。一般参考物质为空气或水：当以空气作为参考物质时，在标准状态（0℃和101.325kPa）下干燥空气的密度为1.293kg/m3（或1.293g/L）。
测试方法：浮力法、水中置换法、比重瓶法、gamma球浸渍法、饱和水法、表面涂抹法等
测试仪器：
收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日
检测项：冲击试验 检测样品：电子电工产品 标准：GJB150.18A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验
检测项：冲击试验 检测样品：电子电工产品 标准：GJB150.18-1986 军用设备环境试验方法 冲击试验
机构所在地：山东省青岛市
检测项：恒定加速试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：半导体分立器件试验方法 方法2006 恒定加速度 GJB128A-1997
检测项：耐腐蚀试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：电子及电气元件试验方法 方法212稳态加速度试验 GJB360B-2009
检测项：耐腐蚀试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法2001.1恒定加速度GJB548B-2005
机构所在地：北京市
