广州广电计量检测股份有限公司

检测项：冲击 检测样品：半导 体分 立器 件 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：冲击 检测样品：半导体分立器件 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：冲击 检测样品：半导体分立器件 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：芯片剪切 检测样品：半导体 集成电路外壳 标准：半导体集成电路外壳总规范 GJB1420A-1999 半导体集成电路外壳通用规范 GJB1420B-2011

检测项：可焊性 检测样品：半导体 集成电路外壳 标准：半导体集成电路外壳总规范 GJB1420A-1999 半导体集成电路外壳通用规范 GJB1420B-2011

检测项：引线试验 检测样品：半导体 集成电路外壳 标准：半导体集成电路外壳总规范 GJB1420A-1999 半导体集成电路外壳通用规范 GJB1420B-2011

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：高温 反偏 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：高温 反偏 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：动态电阻 检测样品：半导体三极管 标准：半导体分立器件和集成电路 第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

国家激光器件质量监督检验中心

检测项：基横模 检测样品：半导体激光器 标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法

检测项：输出能量 检测样品：半导体激光器 标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法

检测项：正向电压 检测样品：半导体激光器 标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海电气输配电试验中心有限公司

检测项：电磁兼容性试验 检测样品：半导体电力变流器 标准：①半导体电力变流器 电气试验方法 GB/T 13422-1992 ②半导体变流器与电网互相干扰及其防护方法导则 GB 10236-2006

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：湿度 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：半导体分立器件试验方法 方法1032高温寿命(非工作) GJB128A-1997

检测项：冲击 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：半导体分立器件试验方法 方法1021耐湿 GJB128A-1997

检测项：振动试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：半导体分立器件试验方法 方法2016冲击试验方法 GJB128A-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

株洲变流技术国家工程研究中心实验中心

检测项：绝缘电阻测量（绝缘试验） 检测样品：半导体变流器 标准：《半导体电力变流器电气试验方法》 GB/T13422-1992 《半导体变流器基本要求的规定》 GB/T3859.1-1993 《半导体变流器:一般要求和电网换相变流器 第1-1部分：基本要求的规定》 IEC60146-1-1:2009 《轨道交通

检测项：操作冲击电压绝缘试验 检测样品：半导体变流器 标准：《高电压试验技术 第一部分：一般试验要求》 IEC 60060-1:2010

检测项：交流电压绝缘试验 检测样品：半导体变流器 标准：《高压输变电设备的绝缘配合》GB311.1-2012

机构所在地：湖南省株洲市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：交流参数 检测样品：数字电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半导体集成电路TTL测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半导体集成电路双极性随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路

检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：光电耦合器 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分 光电子器件 GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：电流传输比 检测样品：光电耦合器 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分 光电子器件 GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：静态电源电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入箝位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

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江苏华晨车辆检测有限公司

检测项：曲率半径 检测样品： 标准：

检测项：曲率半径 检测样品：机动车后视镜 标准：《汽车后视镜的性能和安装要求》 GB 15084-2006

机构所在地：江苏省丹阳市 更多相关信息>>