官方微信
您当前的位置：首页 > 反向截止电流
检测项：反向电流 检测样品： 标准：
检测项：正向电流 检测样品： 标准：
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：反向电流IR 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994
检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994
检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：反向漏电流IR 检测样品：晶体管 标准：《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997
机构所在地：陕西省咸阳市 更多相关信息>>
检测项：反向电流IR 检测样品：电阻器 标准：GB/T5729-2003《电子设备用固定电阻器总规范》
检测项：截止态漏级漏电流 ID（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项：截止态源级漏电流 IS（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：反向电流 检测样品：晶体管 标准：半导体器件分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-1994
检测项：反向电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994
检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项：反向重复峰值电流IRRM 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管
检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第七部分：双极型晶体管
机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：晶体管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：二极管反向电流偏转系数 检测样品：模拟示波器 标准：GB/T 6585-1996 阴极射线示波器通用规范
检测项：二极管反向电流偏转系数 检测样品：模拟示波器 标准：GB/T 6585-1996 《 阴极射线示波器通用规范 》
检测项：直流电流基本误差 检测样品：模拟直流电流表 标准：GB/T 7676.9-1998 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第9部分 推荐的试验方法
机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项：反向漏电流IR 检测样品：三极管 标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章
检测项：集电极 –基极截止电流Icbo 检测样品：光电耦合器 标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章
检测项：反向电流IR 检测样品：光电耦合器 标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件 分立器件第5部分： 光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件 第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章
检测项：反向电流过载试验 检测样品：光伏（PV）组件 标准：IEC 61730-2: First edition 2004-10
检测项：锂电池反向电流测量试验 检测样品：信息技术设备 标准：IEC60950-1:2001; IEC60950-1:2005 + A1:2009 信息技术设备的安全：第1部分：通用要求
机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>
