中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：电源电流ICC 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：耐湿 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：温度循环 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：老炼（二极管、整流管和稳压管） 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：老炼（晶体管） 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：温度循环 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：电源电流IDD 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：开帽内部设计目检 检测样品：微电子器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005

检测项：X射线照相检验 检测样品：微电子器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005

检测项：稳定性烘焙 检测样品：微电子器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：电容量 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

检测项：损耗(Q) 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

检测项：气密性 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：外部目检 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：探针测试 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：内部目检 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：附加电气试验 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：方法301 介质耐电压试验 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

检测项：方法302 绝缘电阻测试 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

检测项：稳定性烘焙 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：最高额定工作 温度下的静态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

检测项：25℃下的 动态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

检测项：最高额定工作 温度下的动态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

广州广电计量检测股份有限公司

检测项：浸渍 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

检测项：耐湿 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

检测项：寿命 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>