中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：湿度 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法1008.1稳定性烘焙GJB548B-2005

检测项：冲击 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法1004.1耐湿GJB548B-2005

检测项：振动试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法2002.1机械冲击 GJB548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：镀层厚度 检测样品：混合集成电路 标准：1、GJB 2438A-2002 混合集成电路总规范 2、GJB 548A－1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B－2005 微电子器件试验方法和程序 4、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法 5、SJ 20645

检测项：频率范围 fL-H 检测样品：混合集成电路 标准：1、GJB 2438A-2002 混合集成电路总规范 2、GJB 548A－1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B－2005 微电子器件试验方法和程序 4、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法 5、SJ 20645

检测项：插入损失Li 检测样品：混合集成电路 标准：1、GJB 2438A-2002 混合集成电路总规范 2、GJB 548A－1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B－2005 微电子器件试验方法和程序 4、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法 5、SJ 20645

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：尺寸检验 检测样品：气体成份 标准：1、《质谱分析方法通则》 GB/T6041-2002 2、《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005方法1018 3、《微电子器件试验方法标准》 MIL-STD-883H：2010 方法2018

检测项：互连电阻 检测样品：气体成份 标准：1、《质谱分析方法通则》 GB/T6041-2002 2、《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005方法1018 3、《微电子器件试验方法标准》 MIL-STD-883H：2010 方法2018

检测项：镀覆孔电阻变化热循环 检测样品：气体成份 标准：1、《质谱分析方法通则》 GB/T6041-2002 2、《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005方法1018 3、《微电子器件试验方法标准》 MIL-STD-883H：2010 方法2018

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：温度循环 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：老炼试验 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：稳定性烘焙 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国北方车辆研究所测试中心

检测项：密封 检测样品：电容器 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序方法1014.2

检测项：外部目检 检测样品：集成电路 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

检测项：电参数测试 检测样品：集成电路 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

陕西千山航空电子有限责任公司检测中心

检测项：粒子碰撞噪声检测 检测样品：固定电阻器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 中方法1015A

检测项：粒子碰撞噪声检测 检测样品：固定电阻器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96中方法2020A

检测项：检 漏 检测样品：固定电阻器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005中方法2020A

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

深圳市华测检测技术股份有限公司

检测项：外部检查 检测样品：电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析 标准：微电子器件试验方法和程序方法GJB 548 B-2005

检测项：电性能测试 检测样品：橡胶及有关制品 标准：微电子器件试验方法和程序方法GJB 548 B-2005 5003 微电路的失效分析程序 微电路试验方法标准方法 MIL-STD-883G-2006

检测项：电性能测试 检测样品：橡胶及有关制品 标准：微电子器件试验方法和程序方法GJB 548 B-2005微电路的失效分析程序 微电路试验方法标准方法 MIL-STD-883G-2006

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：外部检查 检测样品：电子元器件 标准：GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

检测项：内部检查 检测样品：电子元器件 标准：GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

检测项：扫描电子显微镜(SEM)检查 检测样品：电子元器件 标准：GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：高低温测试 检测样品：电子元器件试验 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5004.2筛选程序

检测项：静态参数 检测样品：电子元器件试验 标准：微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查

检测项：动态参数 检测样品：电子元器件试验 标准：微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：稳定性烘焙 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：温度循环 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>