增益和时隙增益调节范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

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熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

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收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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上海同耀通信技术有限公司

检测项：部分项目检测样品：通信设备（空中性能）标准：移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008

检测项：部分项目检测样品：通信设备（空中性能）标准：移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008

检测项：全部项目检测样品：通信设备（射频性能）标准：对分配频段在27.41兆赫至960兆赫范围内的地面移动和固定服务性无线电发射机和接收机的要求 RSS-119 Issue 11 June 2011

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云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：开环电压增益检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：正弦振动检测样品：电子产品、军用装备标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

检测项：随机振动检测样品：电子产品、军用装备标准：GJB150.16A-2009军用装备实验室环境试验方法第16部分：振动试验

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浙江省通信产业服务有限公司通信网络设备检测中心

检测项：增益检测样品：直放站标准：800MHz/2GHz CDMA数字蜂窝移动通信网模拟直放站技术要求和测试方法 YD/T 1596-2011

检测项：增益检测样品：直放站标准：900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网数字直放站技术要求和测试方法 YD/T 2355-2011

检测项：传输时延检测样品：标准：

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：开环电压增益检测样品：电压比较器标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：增益检测样品：电磁继电器标准：GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范

检测项：开环电压增益检测样品：运算放大器标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：开环电压增益检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

检测项：开环电压增益检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：CMOS集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：增益误差EG 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：零栅压时的漏极电流IDDS 检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：开环电压增益检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：损耗角正切检测样品：固定电感器标准：《电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序》 GB/T 8554-1998

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

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北京尊冠科技有限公司

检测项：开环电压增益AVO 检测样品：运算放大器标准：GB/T17940-2000 《半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路》

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：电压比较器标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：基极开路时的最大集电极－发射极电压（VCEO）检测样品：光电耦合器标准：GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》

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