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超声治疗固定贴产品描述:通常由环形黏贴材料(压敏胶)、定位座和保护纸组成。非无菌产品。 超声治疗固定贴预期用途:用于将超声治疗头和耦合剂固定到无创皮肤上。 超声治疗固定贴品名举例:超声治疗固定贴 超声治疗固定贴管理类别:I 隔离透声膜产品描述:隔离透声膜通常由固定套和透声薄膜组成。非无菌产品。 隔离透声膜预期用途:与医用超声设...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月27日
检测项:输出共模 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出峰-峰值 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子产品、军用装备 标准:GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出信号的和 检测样品:倍频程和分数倍频程滤波器 标准:电声学 倍频程和分数倍频程滤波器 GB/T 3241-2010
检测项:声压级 检测样品:声校准器 标准:电声学 声校准器 GB/T 15173-2010附录B
检测项:弯曲角度 检测样品:爬电距离测试卡 标准:家用和类似用途电器的安全 第一部分通用要求 GB 4706.1-2005 (附录L电气间隙和爬电距离的测量指南)
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:输出电压的纹波试验 检测样品:高压谐振试验装置 标准:《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分:高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004
检测项:输出电压的短时稳定性试验 检测样品:高压谐振试验装置 标准:《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分:高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004
检测项:输出短路电流 检测样品:电子式绝缘电阻表 标准:《电阻测量装置通用技术条件第1部分:电子式绝缘电阻表》 DL/T845.1-2004
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:高电平输出电流IOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出电流调整率 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:光输出 检测样品:自整流LED灯泡 标准:电压>50V的普通照明用LED灯泡-性能标准 IEC 62612:2013
检测项:灯具光输出比 检测样品:投光灯具 标准:投光灯具光度测试 GB/T 23110-2008 CIE 43:1979
机构所在地:上海市 更多相关信息>>