北京尊冠科技有限公司

检测项：反向电流（IR） 检测样品：双极型晶 体管 标准：GB/T 4587－94 《半导体器件分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》

检测项：反向电流（IR） 检测样品：信号（包括开关）和调整二级管 标准：GB/T 6571－1995《半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二级管》

检测项：输入二级管反向电流 IR 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

检测项：反向电流(IR) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

检测项：正向电流(IF) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：反向漏电流Ir 检测样品：晶闸管 标准：GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：反向漏电流IR 检测样品：二极管 标准：1.GB/T 4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管； 2.GB/T 6571-1995半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管；

检测项：反向截止电流ICEO 检测样品：晶闸管 标准：GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分：晶闸管

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：反向漏电流 检测样品：PCB 标准：半导体器件分立器件 -第3部分信号（包括开关）和稳压二极管 IEC 60747-3-1985

检测项：反向漏电流 检测样品：PCB 标准：半导体器件分立器件 -第3部分：分立器件：信号，开关和整流二极管 IEC 60747-3-2013

检测项：反向漏电流 检测样品：PCB 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：复位电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：复位电压 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：电源电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：复位电流 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

检测项：复位电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T4377-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：复位电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：复位电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T 4377-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：复位电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第

检测项：复位电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路 测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：大电流注入（BCI）法 检测样品：机动车电子电器组件 标准：机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法 GB/T17619-1998

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：复位电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：复位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入高电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中达电子（江苏）有限公司分析实验室

检测项：IR: 反向电流 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

检测项：谐波电流发射 检测样品：电子电气设备 标准：GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2:2006+A2:2009 IEC61000-3-2:2005 +A1:2008+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值 (设备每相输入电流≤16A)

检测项：ICBO:集电极与基极间反向漏电流 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

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