湖南航天管理局计量检测中心

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：栅极截止电流IGSS 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件 第9部分：场效应晶体管

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：1、GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 2、GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 3、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件

检测项：反向电流IR 检测样品：发光二极管 标准：1、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 3、SJ/T 11394-2009 半导体二极

检测项：反向电流IR 检测样品：发光二极管 标准：1、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 3、SJ/T 11394-2009 半导体二极

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分： 整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：部分参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：电流传输比 检测样品：光电耦合器 标准：半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14-1982

检测项：复位电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：复位电压 检测样品：模拟开关 标准：半导体集成电路模拟开关测试方法 的基本原理 GB/T 14028-1992

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：反向漏电流（IR） 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：输入偏置电流(IB) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：复位电流 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：复位电流 检测样品：电压 调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

检测项：复位电压 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：复位电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：复位电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：复位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

连云港市质量技术综合检验检测中心

检测项：III-V族杂质含量 检测样品：晶体硅 标准：《单晶硅Ⅲ－Ⅴ级杂质的低温FT－IR分析测试方法》 SEMI MF1630-1107

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国石油天然气股份有限公司兰州润滑油研究开发中心石油产品和润滑剂检测站

检测项：油液监测 检测样品：车辆齿轮油 标准：NB/SH/T 0853-2010 在用润滑油状态监测法 傅里叶变换红外(FT-IR）光谱趋势分析法

检测项：油液监测 检测样品：车辆齿轮油 标准：NB/SH/T 0853-2010 在用润滑油状态监测法 傅里叶变换红外(FT-IR）光谱趋势分析法

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

晟通科技集团有限公司科研分公司检测中心

检测项： 检测样品： 标准：利用傅立叶变换红外线(FT-IR)光谱测定法通过趋势分析监测使用过的润滑剂状态的标准规范 ASTM E2412-2010

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>