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射线束扫描测量系统产品描述:通常由水箱、控制单元、探测器、控制软件、电缆线等组成。 射线束扫描测量系统预期用途:用于测量射线束在水中的吸收剂量分布和在空气中的比释动能分布,测量结果用于对放射治疗计划系统的数据配置和修改,及放射治疗设备的质量控制。 射线束扫描测量系统品名举例:放射治疗用自动扫描水模体系统 射线束扫描测量系统管理类别:Ⅱ ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月03日
检测项:初级芳香胺 检测样品:玩具/儿童用品/珠宝 标准:BS EN ISO 4614-2000 塑料 三聚氰胺 甲醛压模 可萃取的甲醛的测定
检测项:初级芳香胺 检测样品:玩具/儿童用品/珠宝 标准:塑料 三聚氰胺 甲醛压模可萃取的甲醛的测定 BS EN ISO 4614-2000
检测项:多溴联苯(PBB) 多溴二苯醚(PBDE) 检测样品:电子电气产品 标准:电子电气产品中限用的六种物质(铅、镉、汞、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚)浓度的测定 IEC 62321:2008
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:电信端口的传导共模骚扰限值 检测样品:工业、科学设备 标准:信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB 9254-2008 / CISPR 22:2006
检测项:整个铁路系统的辐射发射骚扰 检测样品:家用电器 标准:铁路应用 电磁兼容第2部分:整个铁路系统对外界的发射骚扰 EN50121-2:2006
检测项:整个铁路系统的辐射发射骚扰 检测样品:家用电器 标准:轨道交通 电磁兼容第3-1部分:机车车辆 列车和整车 EN50121-3-1:2006
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:20 模应力释放 检测样品:家用和商用电池 标准:家用和商用电池UL2054:2011
检测项:布线、连接和供电 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备的安全 IEC 60950:1999 信息技术设备的安全 第1部分:通用要求 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 +A2:2013 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010 +A12:2011+A2
检测项:内部布线 检测样品:电力变压器、电源、电抗器和类似产品 标准:电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全第1部分:通用要求和试验 IEC61558-1:1997 +A1:1998 EN 61558-1: 1997 +A1:1998 +A11:2003 IEC 61558-1:2005 +A1:2009 EN 6155
检测项:硫化 特性 检测样品:橡胶 标准:橡胶用无转子硫化仪测定硫化特性 GB/T 16584-1996
检测项:拉伸 性能 检测样品:汽车 多楔带 标准:汽车多楔带(5.2) GB 13552-2008
机构所在地:浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项:共模抑制比 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:共模抑制比 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:显微剖切检测 检测样品:印制板 标准:GJB 362B-2009 刚性印制板通用规范 第4.8.3 条显微剖切检验,GB/T4677-2002印制板测试方法 第8.3.2条
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:共模抑制比 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
检测项:外部射频电磁环境 检测样品:军用设备、分系统和系统 标准:系统电磁兼容性要求 GJB1389A-2005 系统电磁兼容性测试方法 Q/TKJ 81-2
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:共模抑制比 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:共模抑制比 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:射线检测 检测样品:铸件 标准:铸造 液体渗透检验 第一部分 砂铸 重力压模铸 低压铸造 BS EN1371-1 1997
检测项:射线检测 检测样品:铸件 标准:航空用熔模钢铸件的参考射线底片 ASTM E 192-1995
检测项:碳、硫、铝、磷、硅、锰、钼、镍、钛、铬、铜、钨 检测样品:钢铁材料 标准:不锈钢 多元素含量的测定 火花放电原子发射光谱法(常规法) GB/T 11170-2008
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:共模抑制比 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:共模抑制比 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>