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检测项：开环电压增益 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000
机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条
检测项：开环电压增益 检测样品：电压 比较器 标准：半导体集成电路 电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：开环增益AVO 检测样品：运算 放大器 标准：半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996
检测项：发射功率 检测样品：滤波器 标准：微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996
检测项：输出功率 检测样品：振荡器 标准：微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益AVO 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则
检测项：电性能（灯功率、功率因数） 检测样品：道路照明用LED灯 标准：CSA 019.2-2013 LED照明产品检验试验规范 第2部分：道路照明用LED灯
机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项：电功率老炼 检测样品：元器件筛选 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB548B-2005/GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序 GJB360B-2009/GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法 GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件
检测项：功率 检测样品：通过式中功率计 标准：中功率计测量方法 SJ2937-1988
检测项：反射系数 检测样品：通过式中功率计 标准：中功率计测量方法 SJ2937-1988
检测项：全部参数 检测样品：发电机逆功率保护装置和逆功率继电器 标准：JB/T 9572-1999发电机逆功率保护装置和逆功率继电器
检测项：有功功率控制 检测样品： 标准：
检测项：无功功率控制 检测样品： 标准：
机构所在地：河南省许昌市 更多相关信息>>
检测项：部分参数 检测样品：单轴摆式伺服线加速度计 标准：单轴摆式伺服线加速度计试验方法 GJB 1037A-2004
检测项：空炉损耗功率比 检测样品：热力输送系统 标准：热力输送系统节能监测 GB/T 15910-2009
检测项：输入功率 检测样品：风机机组与管网系统 标准：风机机组与管网系统节能监测 GB/T 15913-2009
