开环功率输出范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：开环电压增益检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：模拟电压工作范围VA 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：调压范围及压力稳定性检测样品：标准：

检测项：湿热检测样品：电工电子产品、军用船用电气设备标准：GJB150.9-1986 《军用设备环境试验方法湿热试验》

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：开环电压增益检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备标准：(1)电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：温度变化试验检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备标准：光电器件环境应力筛选通用要求 GJB 4508-2002

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联想移动通信科技有限公司实验室

检测项：充电器要求检测样品：移动通信手持机充电器标准：移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009

检测项：输出短路保护检测样品：标准：

检测项：辐射杂散骚扰检测样品：移动通信手持机标准：通用移动通信系统（UMTS）；移动台和附件电磁兼容（EMC） 3GPP TS 34.124 :2010

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北京机电工程研究所环境可靠性实验室

检测项：湿热试验检测样品：电子和电气产品、信息设备、军用设备标准：军用装备实验室环境试验方法第9部分：湿热试验 GJB 150.9A-2009

检测项：湿热试验检测样品：电子和电气产品、信息设备、军用设备标准：军用设备环境试验方法湿热试验 GJB 150.9-1986

检测项：湿热试验检测样品：电子和电气产品、信息设备、军用设备标准：军用通信设备通用规范 GJB 367A－2001 4.7.29

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：绝缘电阻检测样品：电容器标准：《电子设备用固定电容器第一部分：总规范》GB/T2693-2001

检测项：群时延检测样品：微波组件标准：《微波元器件性能测试方法》GJB2650-1996

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：开环电压增益检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：开环电压增益检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：开环电压增益检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：开环电压增益检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输出波形检测样品：电磁继电器标准：GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：基准输出电压VRO 检测样品：晶体三极管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

机构所在地：河南省洛阳市更多相关信息>>

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（运算放大器）标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：电容量C 检测样品：固定电容器标准：1.GJB4157-2001高可靠瓷介固定电容器总规范 2.GB/T2693-2001电子设备用固定电容器总规范 3.GJB192A-1998

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熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

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