开环性能（增益，带宽，失真，动态范围）检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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北京航天计量测试技术研究所

检测项：电压量程范围检测样品：失真度测量仪标准：失真度测量仪通用技术条件和测试方法 GB/T 15472-2012

检测项：失真度量程范围检测样品：脉冲信号源标准：脉冲信号发生器技术条件 GB/T 9317-2012 电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012

检测项：垂直度检测样品：压力传感器(静态、动态) 标准：压力传感器性能试验方法 GB/T 15478-1995

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：开环电压增益检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：开环电压增益检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：晶体谐振器动态电容Cl 检测样品：晶体谐振器标准：SJ2052-1982 《30兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法》

检测项：模拟电压工作范围VA 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：增益检测样品：天线标准：QJ1729A-1996《航天天线测试方法》 CB1338－1998 《舰船通信天线技术要求》 GB/T 9410-2008 《移动通信天线通用技术规范》 CB1189－2008 《船用超短波通信天线电性能基本技术要求和测量方法》

检测项：干扰信号中心频率与带宽检测样品：无线电设备标准：GJB2079-1994《无线电系统间干扰的测量方法》

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：开环电压增益检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备标准：(1)电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：动态电阻检测样品：半导体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：开环电压增益检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：开环电压增益检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

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国家广播电影电视总局广播科学研究院广播电视检测中心

检测项：微分增益失真检测样品：会议电视设备标准：GY/T 209-2005《基于时分复用数字信道的宽带会议电视技术规范》

检测项：微分增益失真(DG) 检测样品：卫星功分器标准：GY/T147-2000《卫星数字电视接收站通用技术条件》

检测项：微分增益失真检测样品：会议电视系统标准：GY/T 146-2000《卫星数字电视上行站通用规范》GB/T 15839-1995 《64~1920kbit/s会议电视系统进网技术要求》

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深圳康来士标准测试技术有限公司

检测项：占用带宽检测样品：无线电通讯设备（5GHz高性能数据传输设备）标准：低压电子和电子设备在9 kHz到40 GHz范围内的美国国家标准无线电噪音发射测试方法： ANSI C63.4 (2009) with FCC PART 15 SUBPART E

检测项：26dB频谱带宽检测样品：无线电通讯设备（5GHz高性能数据传输设备）标准：低压电子和电子设备在9 kHz到40 GHz范围内的美国国家标准无线电噪音发射测试方法： ANSI C63.4 (2009) with FCC PART 15 SUBPART E

检测项：调制带宽检测样品：无线电通讯设备（30MHz以下短距离无线设备）标准：电磁兼容和无线频谱规范（ERM）；短程设备（SRD）；工作在9kHz到25MHZ频率范围内的无线设备和9kHz到30MHz频率范围内的感应回路系统；第1部分：技术特性和测试方法 EN 300 330 -1　v1.7.1(2010-02) 第2部分：含R&T

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：增益检测样品：微波天线标准：GJB3262-98 雷达天线分系统性能测试方法增益 SJ20884-2003 相控阵天线测试方法 GBT9410-2008移动通信天线通用技术规范

检测项：工作频率范围检测样品：微波器件标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

检测项：输入电平适应范围检测样品：微波器件标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

机构所在地：河南省郑州市更多相关信息>>

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公安部第三研究所安全防范与信息安全产品及系统检验实验室

检测项：部分项目* 检测样品：电视视频通道标准：《电视视频通道测试方法》 GB 3659-1983

检测项：部分项目* 检测样品：监视器标准：《彩色监视器通用技术条件》 SJ/T 10603-1994(2009) 《彩色监视器测量方法》 SJ/T 10604-1994(2009)

检测项：部分项目* 检测样品：彩色摄像机标准：《摄像机(PAL/SECAM/NTSC) 测量方法第1部分:非广播单传感器摄像机》 GB/T 15865-1995

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熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

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北京航天计量测试技术研究所

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

国家广播电影电视总局广播科学研究院广播电视检测中心

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公安部第三研究所安全防范与信息安全产品及系统检验实验室

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