开环输出功率范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

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收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：开环电压增益检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：可靠性鉴定和验收试验检测样品：电子和电气产品标准：可靠性鉴定和验收试验 GJB 899A-2009

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：差模开环电压增益AVD 检测样品：A/D 、D/A转换器标准：《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：模拟开关标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992

检测项：开环电压增益（误差放大器）AVD 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

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上海精密计量测试研究所

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路采样/保持放大器标准：GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益 AVD 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：开环差模输入电阻检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：开环单端输出电阻检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：开环电压增益检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：开环电压增益检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：开环电压增益检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

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云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：开环电压增益检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：正弦振动检测样品：电子产品、军用装备标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）

检测项：随机振动检测样品：电子产品、军用装备标准：GJB150.16A-2009军用装备实验室环境试验方法第16部分：振动试验

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：开环电压增益检测样品：电压比较器标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

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检测项：输出功率（频响）检测样品：电磁继电器标准：GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：开环电压增益检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：交变湿热试验检测样品：电子产品标准：军用设备环境试验方法湿热试验GJB150.9-1986

检测项：低气压（高度）试验检测样品：电子产品标准：军用设备环境试验方法低气压（高度）试验GJB150.2-1986

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：开环电压增益检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

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