接收机输入电平范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

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北京振兴计量测试研究所

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输入电流检测样品：标准：

检测项：湿热试验检测样品：红外目标模拟器标准：军用设备实验室环境试验方法：湿热试验； GJB150.9A－2009

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上海精密计量测试研究所

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

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国家无线电频谱管理研究所无线电设备检测实验室

检测项：最大允许输入电平检测样品：GSM移动通信直放机标准：《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005

检测项：自动电平控制范围检测样品：GSM移动通信直放机标准：《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005

检测项：静态参考灵敏度电平检测样品：GSM移动通信直放机标准：《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005

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北京全路通信信号研究设计院监测检测实验室

检测项：额定输入电平检测样品：铁路列车无线通信系统中继器标准：铁路无线列调通信系统入网技术检验规程（试行）条款：五（四）

检测项：静噪门限电平检测样品：铁路列车无线通信系统中继器标准：TB/T3052-2002 列车无线调度通信系统制式及主要技术条件运基通信【2000】208号文

检测项：额定输出电平检测样品：铁路列车无线通信系统中继器标准：铁路无线列调通信系统入网技术检验规程（试行）条款：五（四）

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输入高电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入高电平电压检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入高电平电压检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3022

检测项：输入高电平电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1

检测项：输入低电平电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1

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国家广播电影电视总局电影技术质量检测所

检测项：输入输出电平差检测样品：数字电影放映系统标准：《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012

检测项：线路输入最高电平检测样品：调音台标准：《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989

检测项：参考电平检测样品：数字电影放映系统标准：《数字电影流动放映系统技术要求和测量方法》GY/T 251-2011

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

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熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

北京振兴计量测试研究所

上海精密计量测试研究所

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

国家无线电频谱管理研究所无线电设备检测实验室

北京全路通信信号研究设计院监测检测实验室

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

国家广播电影电视总局电影技术质量检测所

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

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