半导体集成电路时基电路中触发电压的检测

检测项：触发电压 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992 2.3

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

模拟集成电路中触发电压VTR的检测

检测项：触发电压VTR 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》 GB/T 14030-1992

检测机构：国家机械电子产品环境与可靠性质量监督检验中心 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出漏电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：静态功耗 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：触发电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：短路正向跨导gfs 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

检测项：静态漏-源通态电阻RDS(on) 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

检测项：漏-源击穿电压V(BR)DSS 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：电源电压抑制比 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：最大差模输入电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：输出高电平电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输入失调电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：输入偏置电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：静态功耗 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：开环差模输入电阻 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：开环单端输出电阻 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：复位电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：电源电压抑制比 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路 测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：输出电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路 测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路 测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：增益误差EG 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：精度EA 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：线性误差EL 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：功能 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>