艾特赛克（北京）信息技术有限公司

检测项：FCS类： 密码支持 检测样品：信息技术软件的安全性 标准：信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第1部分：简介和一般模型 GB/T18336.1—2008 信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分：安全功能要求GB/T18336.2-2008/ ISO/IEC 15408:2008

检测项：FDP类： 用户数据保护 检测样品：信息技术软件的安全性 标准：信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第3部分：安全保证要求GB/T18336.3-2008/ ISO/IEC 15408:2008 ISO/IEC 18045:2008 《信息技术 安全技术 信息技术安全性评估方法》

检测项：FIA类： 标识和鉴别 检测样品：信息技术软件的安全性 标准：信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第3部分：安全保证要求GB/T18336.3-2008/ ISO/IEC 15408:2008 ISO/IEC 18045:2008 《信息技术 安全技术 信息技术安全性评估方法》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：鉴定试验 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：质量一致性试验 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：部分项目 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：可靠性试验 检测样品：电工电子产品 标准：GB/5080.7-86设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：静电放电抗扰度试验 检测样品：信息技术设备；家用电器；电信设备；声音和电视广播设备；工科医设备；照明灯具和其它电子设备 标准：系统可靠性分析技术 失效模式和效应分析(FMEA)程序 GB/T 7826-1987

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

广东省珠海市质量计量监督检测所

检测项：部分参数 检测样品：农业用聚乙烯吹塑棚膜 标准：GB 4455-2006农业用聚乙烯吹塑棚膜

检测项：部分参数 检测样品：家用和类似用途电器 标准：GB4706.1-2005家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求

机构所在地：广东省珠海市 更多相关信息>>

青岛海尔空调电子有限公司检测中心

检测项：机械以及电气失效的防护 检测样品：电气设备 标准：认可和试验规范-电气设备的一般要求 AS/NZS 3100:2009 + A1:2010

检测项：瞬态过电压 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全 第1部分:一般要求 GB 4706.1-2005 IEC 60335-1:2001 + A1:2004 + A2:2006 IEC 60335-1:2010 AS/NZS

检测项：额定脉冲耐电压、额定电压与过电压类别间的关系 检测样品：设备开关 标准：设备开关.第1部分:一般要求 GB 15092.1-2003 IEC 61058-1:2000 + A1:2001 + A2:2007 AS/NZS 61058.1:2008 EN 61058-1:

机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：损耗角正切 检测样品：电阻器 标准：（4）有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011

检测项：电容量 检测样品：电容器 标准：（2）电子设备用固定电容器 第8部分 分规范：1类瓷介固定电容器 GB/T 5966-1996 （3）电子设备用固定电容器 第4部分：分规范 固体和非固体电解质铝电容器 GB/T 5993-2003 （4）有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中金金融认证中心有限公司

检测项：失效保护（FPT_FLS） 检测样品：移动终端应用软件 标准：《中国银联移动支付技术规范 第1卷：基础规范 第2部分 移动终端支付应用软件安全规范》Q/CUP 037.1.2—2011

检测项：TOE内部传送（FDP_ITT） 检测样品：安全保护控件 标准：信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分：安全功能要求 GB/T 18336.2-2008

检测项：残余信息保护（FDP_RIP） 检测样品：安全保护控件 标准：信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分：安全功能要求 GB/T 18336.2-2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳市巴伦检测技术有限公司

检测项：重复失效测试 检测样品：电池运输 标准：原电池和二次电池电芯的运输安全要求 IEC 62281:2012 EN 62281:2013 GB 21966:2008

检测项：瞬态过电压 检测样品：一般家用及类似设备 标准：家用和类似器具的安全,通用要求 GB 4706.1-2005 IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2012

检测项：过电压测试(6.3) 检测样品：用于移动终端的锂电池 标准：CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev.2.6 (2013)

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：细检漏 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 微电路的失效分析程序 GJB 548B－2005

检测项：细检漏 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 微电路的失效分析程序 GJB 548B－2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>