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检测项:低温试验 检测样品:电子元器件(气候试验) 标准:1.GJB150.4A-2009军用设备实验室环境试验方法,第4部分 2.GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验,第2部分 试验A
检测项:低温低气压 检测样品: 标准:GB/T2423.25-2008电工电子产品环境试验,第2部分 试验Z/AM
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:低温试验 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:低温试验 检测样品:军用装备JYZB 标准:GJB150.1A-2009《军用装备实验室环境试验方法 第1部分 通用要求》 GJB150.4A-2009《军用装备实验室环境试验方法 第4部分 低温试验》 GJB 367A-2001《军用通信设备通用规范》 GJB1488-92《军用内燃机电站通用试验
检测项:温度冲击试验 检测样品:军用装备JYZB 标准:GJB150.1A-2009《军用装备实验室环境试验方法 第1部分 通用要求》 GJB150.5A-2009《军用装备实验室环境试验方法 第5部分 温度冲击试验》 GJB 367A-2001《军用通信设备通用规范》 GJB 2093-1994《军用方舱通用