有用信号接收输入电平范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入高电平电流(IIH) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入低电平电流（IIL）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入电流（II）检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管　 GB/T4023-1997 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995

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浙江省通信产业服务有限公司通信网络设备检测中心

检测项：最大允许输入电平检测样品：直放站标准：900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网数字直放站技术要求和测试方法 YD/T 2355-2011

检测项：自动电平控制（ALC)范围检测样品：直放站标准：900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网数字直放站技术要求和测试方法 YD/T 2355-2011

检测项：输入、输出电压驻波比检测样品：标准：

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中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：TTL 电路测试标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

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北京尊冠科技有限公司

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成接口电路线电路标准：SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理

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上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：部分项目检测样品：GPS接收设备标准：全球导航卫星系统（GNSS）第一部分：全球定位系统（GPS）接收设备性能标准、测试方法和要求的测试结果 GB/T 18214.1-2000

检测项：部分项目检测样品：GPS接收设备标准：全球导航卫星系统（GNSS）第一部分：全球定位系统（GPS）接收设备性能标准、测试方法和要求的测试结果 GB/T 18214.1-2000

检测项：*最高输出电平检测样品：接触式IC卡标准：识别卡带触点的集成电路卡第3部分：电信号和传输协议 GB/T16649.3-2006 ISO/IEC 7816-3-2006

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浙江省电子信息产品检验所

检测项：标称输出电平检测样品：干线放大器标准：电视和声音信号的电缆分配系统设备与部件第8部分:干线放大器通用规范 GB/T 11318.8-1996 电视和声音信号的电缆分配系统设备与部件第1部分:通用规范

检测项：频率范围检测样品：干线放大器标准：电视和声音信号的电缆分配系统设备与部件第8部分:干线放大器通用规范 GB/T 11318.8-1996 电视和声音信号的电缆分配系统设备与部件第1部分:通用规范

检测项：增益调节范围检测样品：干线放大器标准：电视和声音信号的电缆分配系统设备与部件第8部分:干线放大器通用规范 GB/T 11318.8-1996 电视和声音信号的电缆分配系统设备与部件第1部分:通用规范

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中国电子科技集团公司第五十四研究所通信导航设备实验室（石家庄通信测控技术研究所通信导航设备实验室）

检测项：接收门限电平检测样品：散射通信设备标准：数字对流层散射通信系统通用规范 GJB883A-2003

检测项：音量控制或线路电平调整检测样品：中短波通信设备标准：短波单边带接收机电性能测量方法 GB/T6934-1995

检测项：辅助信号检测样品：中短波通信设备标准：短波单边带接收机电性能测量方法 GB/T6934-1995

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京信通信技术（广州）有限公司天馈检测中心

检测项：增益检测样品：移动通信室内信号分布系统天线标准：1.《移动通信室内信号分布系统天线技术条件》 GB/T 21195-2007 2.《天线标准测试程序》 IEEE Std 149TM-1979(R2008)

检测项：旁瓣检测样品：移动通信天线标准：1.《移动通信天线通用技术规范》 GB/T 9410-2008 2.《天线标准测试程序》 IEEE Std 149TM-1979(R2008)

检测项：增益检测样品：移动通信系统基站天线标准：1.《移动通信系统基站天线技术条件》 YD/T 1059-2004 2.《天线标准测试程序》 IEEE Std 149TM-1979(R2008)

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熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

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上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

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