模拟集成电路中截止态源级漏电流 IS（off）的检测

检测项：截止态源级漏电流 IS（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1996

检测机构：国家机械电子产品环境与可靠性质量监督检验中心 更多相关信息>>

电磁辐射中X-γ辐射剂量率的检测

检测项：X-γ辐射剂量率 检测样品：电磁辐射 标准：含密封源仪表的放射卫生防护要求，GBZ 125-2009

检测机构：环科院检测中心 更多相关信息>>

油品中击穿电压的检测

检测项：击穿电压 检测样品：油品 标准：GB/T 507-2002(2004) 绝缘油击穿电压测定法

检测机构：北京优测科技发展有限公司 更多相关信息>>

动物源性食品中磺胺嘧啶（SDZ）的检测

检测项：磺胺嘧啶（SDZ） 检测样品：动物源性食品 标准：动物源性食品中磺胺类药物残留量的测定 高效液相色谱-质谱质谱法,GB/T 21316-2007

检测机构：中国航天科技集团公司检测中心 更多相关信息>>

换位导线中耐直流电压的检测

检测项：耐直流电压 检测样品：换位导线 标准：JB/T 6758.1-2007《换位导线 第1部分：一般规定》

检测机构：国家电线电缆质量监督检验中心 更多相关信息>>

复合材料中干固体绝缘材料耐电弧的检测

检测项：干固体绝缘材料耐电弧 检测样品：复合材料 标准：GB/T1411-2002/IEC61621:1997《干固体绝缘材料 耐高电压、小电流电弧放电的试验》

检测机构：玻璃钢制品质量检验中心 更多相关信息>>

信息技术设备中电压波动和闪烁的检测

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：栅-源截止电压VGS(off) 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

检测项：栅-源阈值电压VGS(TO) 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中达电子（江苏）有限公司分析实验室

检测项：VGS(off): 柵-源截止電壓/VGS(th):閾值電壓 检测样品：电子电气产品 标准：电子电气产品中限用的六种物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚）的测定IEC 62321 -2008

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品：电子电气设备 标准：GB/T 17626.11-2008 IEC 61000-4-11:2004 EN61000-4-11:2004 电磁兼容试验和测量技术 电压暂降,短时中断和电压变化的抗扰度试验

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品：电气照明和类似设备 标准：GB 17743-2007 CISPR 15:2013 EN 55015:2013 电气照明和类似设备的无线电骚扰限值和测量方法

机构所在地： 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：截止态源级漏电流 IS（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

检测项：截止态漏级漏电流 ID（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

检测项：栅--源击穿电压BVGS 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>