泄漏电流测试仪检测实验

牙髓活力测试仪

简介

牙髓活力测试仪产品描述：通常由脉冲发生器、电极、显示屏和电源组成。通过电流刺激牙髓神经组织，测定激发的患者反应电流，从而评估牙髓活力。牙髓活力测试仪预期用途：用于评估牙髓活力情况。牙髓活力测试仪品名举例：牙髓活力测试仪牙髓活力测试仪管理类别：Ⅱ 牙髓活力测试仪相关标准： 1、GB/T 9938-2013 牙位和口腔区域的标示法...查看详情>>

牙髓活力测试仪

简介

牙髓活力测试仪产品描述：通常由脉冲发生器、电极、显示屏和电源组成。通过电流刺激牙髓神经组织，测定激发的患者反应电流，从而评估牙髓活力。

牙髓活力测试仪预期用途：用于评估牙髓活力情况。

牙髓活力测试仪品名举例：牙髓活力测试仪

牙髓活力测试仪管理类别：Ⅱ

牙髓活力测试仪相关标准：
1、GB/T 9938-2013 牙位和口腔区域的标示法
2、YY/T 0268-2008 牙科学口腔医疗器械生物学评价第1单元：评价与试验
3、YY/T 1120-2021 牙科学口腔灯

收起百科↑ 最近更新：2023年05月08日

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：漏电流(IO) 检测样品：电容器标准：电子设备用固定电容器第1部分：总规范 GB/T 2693-2001

检测项：反向漏电流（IR）检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：反向栅源漏电流（IGSSR）检测样品：光电耦合器标准：半导体分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分

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中海油能源发展股份有限公司油田建设工程分公司电气设备检测实验室

检测项：整组试验检测样品：漏电保护器标准：剩余电流动作保护电器的一般要求 GB/Z 6829-2008

检测项：外观检查检测样品：漏电保护器标准：剩余电流动作保护电器的一般要求 GB/Z 6829-2008

检测项：漏电电流检测样品：手持式电动移动工具标准：手持式电动工具的管理、使用、检查和维修安全技术规程 GB/T 3787-2006

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四川特讯机电检测有限公司

检测项：工作温度下的漏电流和电气强度检测样品：家用电器标准：家用和类似用途电器的安全第一部分:通用要求

检测项：漏电流和电气强度检测样品：家用电器标准：家用和类似用途电器的安全第一部分:通用要求

检测项：绝缘电阻，介电强度和漏电流检测样品：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全标准：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全第一部分:通用要求

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亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：漏电流检测样品：电阻器标准：电子设备用固定电阻器第1部分：总规范 GB/T 5729-2003 IEC 60115-1:2001

检测项：漏电流检测样品：电阻器标准：电子设备用固定电阻器第1部分：总规范 GB/T 5729-2003 IEC 60115-1:2001

检测项：外观检查检测样品：电容器标准：电子设备用固定电容器第1部分：总规范 GB/T 2693-2001 IEC 60384-1:1999

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：直流漏电流检测样品：电容器标准：有可靠性指标的非固体电解质钽固定电容器总规范 GJB733A-1996 3.7

检测项：输入失调电流检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入偏置电流检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

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福建火炬电子科技股份有限公司火炬电子实验室

检测项：漏电流检测样品：电子设备用固定电容器标准：电子设备用固定电容器第一部分：总规范 GB/T 2693-2001

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总后勤部卫生部药品仪器检验所

检测项：部分参数检测样品：医用诊断X射线机标准：医用电气设备第2部分诊断X射线发生装置的高压发生器安全专用要求GB 9706.3-2000

检测项：部分参数检测样品：医用诊断X射线机标准：医用电气设备第2部分诊断X射线发生装置的高压发生器安全专用要求GB 9706.3-2000

检测项：泄漏率检测样品：药品标准：《中国药典》2005年版二部附录ⅠL

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西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：栅极漏电流检测样品：小型开关电源标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3411.1

检测项：栅极漏电流检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3411.1

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法4016.4

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

检测项：输出高电平时电源电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：反向漏电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

检测项：漏电流检测样品：电感器标准：电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序 GB-T8554-1998

检测项：C、B截止电流检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.2-1982

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中海油能源发展股份有限公司油田建设工程分公司电气设备检测实验室

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