欧陆检测技术服务（上海）有限公司

检测项：铅、汞、镉、铬、溴 检测样品：电子电器产品 标准：电子电器产品中六种限用物质浓度的测定程序 IEC 62321:2008 ED1.0 第6部分&附件D 利用X射线荧光光谱仪（XRF）进行样品筛选

检测项：铅、汞、镉、总铬、总溴 检测样品：电子电器产品 标准：电子电气产品中限用物质检测 第5部分 使用X射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴进行筛选 IEC 62321-3-1:2013

检测项：重金属元素铅，镉，铬，砷，硒，锑，钡，汞含量 检测样品：玩具和儿童用品 标准：美国玩具安全标准 ASTM F963-11 条款4.3.5 重金属 8.3 重金属测试方法 能量色散X-射线荧光光谱法测定涂层和类似涂层及基材物质中的重金属 ASTM F2853-10

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

甘肃省有色金属地质勘查局天水矿产勘查院测试中心

检测项：锶 检测样品：地球化学调查（1个产品50个参数） 标准：稀有金属矿中稀有元素分析规程 DZG93－04六（一）硫酸盐沉淀重量法，（二）火焰原子吸收光谱法，（四）X射线荧光光谱法

检测项：铝 检测样品：黑色金属矿物分析（3个产品52参数） 标准：铁矿石 钙、硅、镁、钛、磷、锰、铝和钡含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法GB/T6730.62-2005

检测项：钙 检测样品：黑色金属矿物分析（3个产品52参数） 标准：铁矿石 钙、硅、镁、钛、磷、锰、铝和钡含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法GB/T6730.62-2005

机构所在地：甘肃省天水市 更多相关信息>>

四川省无线电监测站

检测项：开环功率控制的时间响应 检测样品：CDMA2000 1x EV-DO数字蜂窝通信系统移动台 标准：YDC 015-2006 《800MHz CDMA 1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台》 YDC 023-2006　　　　《800MHzCDMA 1X数字蜂窝移动通信网设备测试方法：移动台 第一部分 基本无线指标、功能和性能》 YD/T 1558-

检测项：噪声系数 检测样品：CDMA95/CDMA2000发射基站 标准：YDC 014-2008 　　《800MHz CDMA 1X 数字蜂窝移动通信网设备技术要求：基站子系统》　　　 信部无[2002]65 号　《关于800MHz 频段 CDMA 系统基站和直放机杂散发射限值及与 900MHz 频段 GSM 系统邻

检测项：射频输出总功率 检测样品：CDMA95/CDMA2000发射基站 标准：YDC 014-2008 　　《800MHz CDMA 1X 数字蜂窝移动通信网设备技术要求：基站子系统》　　　 信部无[2002]65 号　《关于800MHz 频段 CDMA 系统基站和直放机杂散发射限值及与 900MHz 频段 GSM 系统邻

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

广东惠晟检验科技有限公司

检测项：传导发射 检测样品：专业音视频、娱乐及灯光控制器具 标准：GB/T19954.1-2005 EN 55103-1: 2009 专业音视频、娱乐灯光控制器具的电兼容要求 第一部分:发射磁

检测项：温控器表盘刻度偏离 检测样品：家用制冷器具 标准：EN 153：2006 家用电冰箱、冷冻食品储藏箱、食品冷冻箱能效测试方法 Commission Regulation(EC) No 643/2009 IEC 62552:2007 家用制冷器具-特征及测试方法 香港自愿性能源效益标签计划-家用冷藏器具

检测项：部分项目 检测样品：舞台灯光、电视、电影及摄影场所(室内外)用灯具 标准：GB 7000.217-2008 IEC 60598-2-17:1984+A2:1990 EN 60598-2-17:1989+A2:1991 AS/NZS 60598.2.17:2006 灯具 第2-17部分：特殊要求舞台灯光、电视、电影及摄影场所(室内

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

快特电波科技(苏州)有限公司检测中心

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度 检测样品：专业音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备 标准：专业音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备-抗扰度要求

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度 检测样品：专业音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备 标准：专业音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备-发射要求 IEC/EN 55103-1:2009

检测项：辐射骚扰 检测样品：专业音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备 标准：专业音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备-抗扰度要求

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：X-射线检查 检测样品：军用电子元器件破坏性物理分析 标准：1、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4、GJB 360A-1996 电子及

检测项：X射线照相 检测样品：半导体分立器件失效分析 标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

检测项：X射线照相 检测样品：半导体分立器件失效分析 标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

宁夏共享集团有限责任公司检测中心

检测项：磁粉检验 检测样品：焊接试件 标准：金属铸件的X射线照相检验的标准试验方法 ASTM E1030-2005

检测项：磁粉检验 检测样品：焊接试件 标准：金属铸件的X射线照相检验的标准试验方法 ASTM E1030-2005

检测项：射线检测 检测样品：焊接试件 标准：厚壁(2至4 1/2英寸)(51至114mm)钢铸件射线照相标准参考底片 ASTM E186-2010

机构所在地：宁夏回族自治区银川市 更多相关信息>>

济南市计量检定测试院

检测项：含量 检测样品：珠宝玉石 标准：首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T18043-2008 首饰 贵金属纯度的规定及命名方法 GB11887-2008

检测项：钻石的质量 检测样品：钻石分级 标准：钻石分级 GB/T16554-2010

检测项：质量 检测样品：珠宝玉石 标准：贵金属饰品质量测量允差的规定 QB/T1690-2004

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：组份 检测样品：半导体材料 标准：高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 GB/T 24576-2009

检测项：晶格常数 检测样品：半导体材料 标准：转靶多晶体X射线衍射方法通则； JY/T 009-1996 金属点阵常数的测定方法 YB/T5337-2006 III族氮化物外延片晶格常数测试方法ZKB 0045-2013

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

盐城市计量测试所

检测项：金、银、铂 检测样品：贵金属首饰 标准：首饰 贵金属纯度的规定及命名方法 GB11887-2012 首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2008

检测项：质量 检测样品： 标准：贵金属饰品质量测量允差的规定QB/T 1690-2004

机构所在地： 更多相关信息>>