中国电子科技集团公司第十四研究所计量测试中心

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统 标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A－1997 军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A－1997 电磁干扰特性测量 MIL-STD-462D 电磁干扰发射和敏感度控制要求 MIL-STD-461D

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

北京雷电防护装置测试中心

检测项：二端口和输入/输出端子分开的一端口的SPD试验 检测样品：低压电涌保护器（SPD） 标准：低压浪涌保护装置 第11部分:接到低压配电系统的浪涌保护装置 要求和试验方法 EN 61643-11:2002+A11:2007低压浪涌保护装置 第11部分:接到低压配电系统的浪涌保护装置 要求和试验方法IEC 61643-11：2011

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

惠州出入境检验检疫局检验检疫综合技术中心

检测项：部分项目 检测样品：电力变压器、电源、电抗器和类似产品 标准：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第一部分：通用要求和试验 GB 19212.1-2008 IEC 61558-1:2005

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>

上海泰捷通信技术有限公司测试中心

检测项：射频输出功率 检测样品：2.4GHz无线数据传输设备（电磁兼容） 标准：电磁兼容和频谱;宽带传输系统;运用宽频调制技术且工作在2.4G的数据传输终端 ;包括R&TTE 3.2节基本要求的EN协调标准 ETSI EN 300 328 V1.8.1 (2012-06）

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

厦门通士达照明有限公司检测实验室

检测项：部分项目 检测样品：管形荧光灯用交流电子镇流器 标准：灯的控制装置 第1部分 一般要求和安全要求 GB 19510.1-2009/IEC 61347-1:2007 灯的控制装置 第4部分 管形荧光灯用交流电子镇流器的特殊要求

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

天祥公证行有限公司-消费及商用电子电气

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：IEC 60950: 1995 +A1,A2,A3,A4 IEC 60950: 1999 IEC 60950: 2001 IEC 60950-1：2005 + A1:2009信息技术设备的安全

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：IEC 60950: 1995 +A1,A2,A3,A4 IEC 60950: 1999 IEC 60950: 2001 IEC 60950-1：2005 + A1:2009 信息技术设备安全 第一部份:通用要求

检测项：部分项目 检测样品：声音和电视广播接收机及有关设备 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电干扰特性限值和测量方法 EN 55013: 2001+A1+A2

机构所在地： 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>