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防冲击眼护具检验规则
序号 |
检验项目 |
检验依据标准及条款 |
检验方法 |
1 |
可见光透射比 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.6.3 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.1.3 |
2 |
抗冲击性能 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.7 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.2 |
3 |
耐热性能 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.8 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.3 |
4 |
有机镜片表面 耐磨性能 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.10 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.5 |
5 |
防高速粒子 冲击性能 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.11 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.6 |
6 |
化学雾滴防护性能 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.12 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.8 |
7 |
标识 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第7.2 |
检查 |
收起百科↑ 最近更新:2018年12月10日
检测项:Mn 检测样品:铁矿石 标准:铁矿石化学分析方法 高碘酸钾光度法测定锰量 GB/T6730.21-1986
检测项:TiO2 检测样品:钒钛磁铁矿 标准:钒钛磁铁矿分析规程锌片还原-硫酸高铁铵滴定法 测定二氧化钛量 DZG 93-07-2-1
机构所在地:云南省昆明市
检测项:锰 检测样品:兰炭 标准:硅铝合金、硅钡铝合金化学分析方法 高碘酸钠分光光度法测定锰含量 YB/T 178.4-2000
机构所在地:内蒙古自治区呼和浩特市
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:半导体集成接口电路线电路 标准:SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市
检测项:渗透检测 检测样品:金属材料及钢结构焊接产品 标准:铸钢件 超声检测 第2部分:高承压铸钢件 GB/T 7233.2-2010
机构所在地:浙江省杭州市