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检测项：破断力 检测样品：钢丝帘线 标准：子午线轮胎用钢帘线GB/T11181-2003
检测项：破断伸长率 检测样品：胎圈用钢丝 标准：镀铜钢丝镀层重量及其 组分试验方法 YB/T135-1998
检测项：断 裂 总延伸率 检测样品：胎圈用钢丝 标准：金属材料 线材 第1部分： 单向扭转试验方法 GB/T239.1-2012
机构所在地：山东省东营市 更多相关信息>>
检测项：加工精度（粉色麸星） 检测样品：粮油食品 标准：米类加工精度异色相差分染色检验法（IDS法） GB/T 18105-2000
检测项：熟断条率 检测样品：粮油食品 标准：挂面 LS/T 3212-1992
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：全部项目 检测样品：入侵检测系统（IDS） 标准：GB/T 20275-2006《信息安全技术 入侵检测系统技术要求和测试评价方法》
检测项：邮件过滤 检测样品：入侵检测系统（IDS） 标准：信息安全技术 入侵检测系统技术要求和测试评价方法 GB/T 20275-2006
检测项：邮件处理 检测样品：入侵检测系统（IDS） 标准：信息安全技术 入侵检测系统技术要求和测试评价方法 GB/T 20275-2006
检测项：安全审计 检测样品：入侵检测系统（IDS） 标准：信息安全技术 入侵检测系统技术要求和测试评价方法 GB/T 20275-2006
检测项：输出短路和过载保护 检测样品：变压器、电源、电抗器和类似产品 标准：IEC61558-1:2005+A1:2009 EN61558-1:2005+A1:2009 GB 19212.1-2008变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第一部分：通用要求和试验
检测项：正常带载下的输出电压和电流 检测样品：变压器、电源、电抗器和类似产品 标准：IEC61558-1:2005+A1:2009 EN61558-1:2005+A1:2009 GB 19212.1-2008变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第一部分：通用要求和试验
检测项：耐潮湿 检测样品：变压器、电源、电抗器和类似产品 标准：IEC61558-1:2005+A1:2009 EN61558-1:2005+A1:2009 GB 19212.1-2008 变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第一部分：通用要求和试验
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：绝缘电阻、介电强度和漏电流 检测样品：电源变压器,电源装置和类似产品 标准：电源变压器,电源装置和类似产品的安全 第1部分:一般要求 GB 19212.1-2008 IEC 61558-1:2005 + A1:2009 AS/NZS 61558.1:2008 + A1:2009
检测项：分断容量 检测样品：家用和类似用途插头插座 标准：家用和类似用途插头插座 第一部分:通用要求 GB 2099.1-2008 IEC 60884-1:2002 + A1:2006 VDE 0620-1:2010
检测项：通断能力 检测样品：固定式电气装置的开关 标准：家用和类似用途固定式电气装置的开关第1部分:一般要求 GB 16915.1-2003 IEC 60669-1:1998 + A1:1999 + A2:2006 EN 60669-1:1999 + A1:20
机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>
检测项：产品安全性 检测样品：通讯产品、IT产品(安全性检测) 标准：GR-1089-CORE Issue 5, August 2009 EMC和电气安全-通讯网络设备通用标准
检测项：产品安全性 检测样品：通讯产品、IT产品(安全性检测) 标准：GR-1089-CORE Issue 6:2011 EMC和电气安全-通讯网络设备通用标准
检测项：谐波电流骚扰 检测样品：通讯产品、IT产品、电信设备 （电磁兼容性） 标准：GB 17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）
检测项：输出短路电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：输出高电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：充电器要求 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009
检测项：输出短路保护 检测样品： 标准：
机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项：部分项目 检测样品：灯具 标准：灯具 第一部分:一般要求与试验： GB 7000.1-2007； IEC 60598-1:2008； EN 60598-1:2008 +A11:2009;
检测项：部分项目 检测样品：固定的通用照明设备 标准：灯具 第2-1部份:特殊要求 固定式通用灯具： GB 7000.201-2008； IEC 60598-1:2008； EN 60598-2-1:1989;
检测项：部分项目 检测样品：可移动 的通用照明设备 标准：灯具 第2-4部份:特殊要求 可移动式通用灯具： GB 7000.204-2008； IEC 60598-2-4:1997； EN 60598-2-4:1998;
