西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：浪涌(冲击)抗扰度 检测样品：电子电器产品 标准：电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008、 IEC 61000-4-5:2005

检测项：漏极反向电流 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3415.1

检测项：栅极漏电流 检测样品：小型开关电源 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3411.1

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

深圳市中兴通讯技术服务有限责任公司认证检测事业部

检测项：产品安全性 检测样品：通讯产品、IT产品(安全性检测) 标准：GR-1089-CORE Issue 5, August 2009 EMC和电气安全-通讯网络设备通用标准

检测项：产品安全性 检测样品：通讯产品、IT产品(安全性检测) 标准：GR-1089-CORE Issue 6:2011 EMC和电气安全-通讯网络设备通用标准

检测项：谐波电流骚扰 检测样品：通讯产品、IT产品、电信设备 （电磁兼容性） 标准：GB 17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出短路电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

联想移动通信科技有限公司实验室

检测项：充电器要求 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009

检测项：输出短路保护 检测样品： 标准：

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

深圳市卓时检测技术有限公司

检测项：部分项目 检测样品：灯具 标准：灯具 第一部分:一般要求与试验： GB 7000.1-2007； IEC 60598-1:2008； EN 60598-1:2008 +A11:2009;

检测项：部分项目 检测样品：固定的通用照明设备 标准：灯具 第2-1部份:特殊要求 固定式通用灯具： GB 7000.201-2008； IEC 60598-1:2008； EN 60598-2-1:1989;

检测项：部分项目 检测样品：可移动 的通用照明设备 标准：灯具 第2-4部份:特殊要求 可移动式通用灯具： GB 7000.204-2008； IEC 60598-2-4:1997； EN 60598-2-4:1998;

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深圳市莫特技术服务有限公司检测实验室

检测项：部分项目 检测样品：测量、控制和实验室用电气设备/探头 标准：测量、控制和实验室用电气设备的安全 电工测量和试验用手持探头的特殊要求 GB 4793.5-2008 IEC 61010-031:2002 +A1:2008 EN 61010-031:2002 +A1:2008

检测项：谐波电流 检测样品：电磁兼容 (工业、科学、医疗设备) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流限值（设备每相输入电流≤16A） EN61000-3-2:2006+A1：2009+A2:2009 IEC61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 GB 17625.1-2003

检测项：谐波电流 检测样品：电磁兼容/信息技术设备 标准：电磁兼容 限值 谐波电流限值（设备每相输入电流≤16A）EN61000-3-2:2006+A1：2009+A2:2009 IEC61000-3-2：2005+A1:2008+A2：2009 GB 17625.1-2003

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：短路断态电流Ids 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：反向截止电流ICEO 检测样品：晶闸管 标准：GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分：晶闸管

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

东莞市凯威检测技术有限公司

检测项：部分项目 检测样品：一般灯具 标准：灯具一般安全要求与试验–第1部分: 通用要求 GB 7000.1-2007 IEC 60598-1:2008 EN 60598-1:2008+A11:2009 AS/NZS 60598.1:2003

检测项：部分项目 检测样品：投光灯具 标准：投光灯具安全要求 GB 7000.7-2005 IEC 60598-2-5:1998 EN 60598-2-5:1998 AS/NZS 60598.2.5:2002

检测项：部分项目 检测样品：钨丝灯特低电压照明系统 标准：钨丝灯特低电压照明系统 GB 7000.18:2003 IEC 60598-2-23:2001 EN 60598-2-23:1996+A1:2000 AS/NZS 60598.2.23:2002

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东莞辰达电器有限公司测试中心

检测项：短路试验 检测样品： 标准：

检测项：限定短路 检测样品：通用卡式 开关 标准：通用卡式 开关 UL20: 2008

检测项：短路试验 检测样品：接地故障电路断路器 标准：接地故障电路断路器 UL943:2012

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国网湖北省电力公司电力科学研究院

检测项：短路承受能力 检测样品：高压电器设备 标准：电力变压器 第5部分 承受短路的能力 GB1094.5-2008

检测项：短路耐受强度试验和短路保护功能 检测样品：低压成套无功功率补偿装置 标准：低压成套无功功率补偿装置GB/T15576-2008

检测项：短路阻抗和负载损耗测量 检测样品：电力变压器 标准：电力变压器 第10部分 声级测定GB/T1094.10-2003

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