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检测项:短路断态电流Ids 检测样品:半导体集成电路(运算放大器) 标准:1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路(数字集成电路) 标准:1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:一般灯具 标准:灯具一般安全要求与试验–第1部分: 通用要求 GB 7000.1-2007 IEC 60598-1:2008 EN 60598-1:2008+A11:2009 AS/NZS 60598.1:2003
检测项:部分项目 检测样品:投光灯具 标准:投光灯具安全要求 GB 7000.7-2005 IEC 60598-2-5:1998 EN 60598-2-5:1998 AS/NZS 60598.2.5:2002
检测项:部分项目 检测样品:钨丝灯特低电压照明系统 标准:钨丝灯特低电压照明系统 GB 7000.18:2003 IEC 60598-2-23:2001 EN 60598-2-23:1996+A1:2000 AS/NZS 60598.2.23:2002
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:短路电压 检测样品:电抗器和类似产品的安全 第一部分:一般要求和试验 标准:电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第一部分:一般要求和试验 IEC 61558-1:2005+A1:2009 EN 61558-1:2005+A1:2009 GB 19212.1:2008 AS/NZS 61558.1:2008+A1:2009
检测项:短路和过载保护 检测样品:电抗器和类似产品的安全 第一部分:一般要求和试验 标准:电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第一部分:一般要求和试验 IEC 61558-1:2005+A1:2009 EN 61558-1:2005+A1:2009 GB 19212.1:2008 AS/NZS 61558.1:2008+A1:2009
检测项:结构 检测样品:灯具 标准:GB7000.1-2007 IEC60598-1:2008 EN60598-1:2008+A11:2009 AS/NZS60598.1:2003 《灯具一般安全要求与试验》
检测项:短路和过载保护 检测样品:变压器、电源、电抗器和类似产品 标准:IEC61558-1:2005+A1:2009 EN61558-1:2005+A1:2009 GB 19212.1-2008 变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第一部分:通用要求和试验
检测项:输出短路和过载保护 检测样品:变压器、电源、电抗器和类似产品 标准:IEC61558-1:2005+A1:2009 EN61558-1:2005+A1:2009 GB 19212.1-2008变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第一部分:通用要求和试验
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:输出短路/过载测试 检测样品:家用和类似用 途电器 空调器 (安全) 标准:GB4706.1-2005 IEC 60335-1:2010 EN60335-1 :2012 家用和类似用途电器的安全 第1部分:通用要求;GB4706.32-2012 IEC 60335-2-40:2005 EN60335-2-40:2003家用和类似用
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:结构 检测样品:灯具 标准:灯具 第1部分:一般安全要求与试验 GB7000.1-2007 IEC 60598-1:2008 EN 60598-1:2008+A11:2009 AS/NZS 60598.1:2003
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