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检测项:少数载流子寿命 检测样品:晶体硅 标准:《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》 GB/T 1553-2009
检测项:氧浓度 检测样品:晶体硅 标准:《非接触微波反射光电导衰减测试硅晶片载流子复合寿命的方法》 SEMI MF 1535-1106
机构所在地:江苏省连云港市
机构所在地:广东省广州市
机构所在地:重庆市
检测项:耐湿 检测样品:混合集成电路 标准:混合集成电路总规范GJB2438A-2002 等效IEC748-20-1988 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 GB/T8976-1996
检测项:扫频振动 检测样品:混合集成电路 标准:混合集成电路总规范GJB2438A-2002 等效IEC748-20-1988 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 GB/T8976-1996
检测项:盐雾 检测样品:混合集成电路 标准:混合集成电路总规范GJB2438A-2002 等效IEC748-20-1988 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 GB/T8976-1996
机构所在地:江苏省无锡市