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放射治疗记录与验证系统软件产品描述:通常由软件安装光盘(或者从网络下载安装程序)组成。提供、定义或者显示治疗机设置数据;由人工输入数据或直接从其他设备导入数据;记录整个治疗阶段的数据。 放射治疗记录与验证系统软件预期用途:用于在计划的放射治疗开始之前和每个治疗阶段开始之前,比较放射治疗机当前参数和预置参数,并记录实际治疗阶段的数据。 放射治疗记录与验证系统软件品名举例...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月04日
检测项:毛细效应 检测样品:纺织品 标准:纺织品毛细效应试验方法 FZ/T 01071-2008
检测项:毛细效应 检测样品:纺织品 标准:纺织品毛细效应试验方法 FZ/T 01071-2008
检测项:毛细效应 检测样品:纺织品 标准:机织物测试方法 - 厚度 JIS L 1096-1999 章节 8.5
机构所在地:浙江省杭州市
检测项:S参数 检测样品:场效应晶体管 标准:1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分:场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件
检测项:电压驻波比 检测样品:场效应晶体管 标准:1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分:场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件
检测项:特征频率fT 检测样品:场效应晶体管 标准:1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分:场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件
机构所在地:河北省石家庄市
检测项:发射极-基极截止电流IEBO 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:集电极-发射极饱和电压VCEsat 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:基极-发射极饱和电压VBEsat 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
机构所在地:上海市
检测项:密封性检查 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:外部目检 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:栅源极截止(漏泄)电流IGSS 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:湖北省孝感市