中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：输入偏置电流 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：输入偏置电流温度系数 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：DAC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、基准电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输入偏置电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：(1)电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输入失调电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输入偏置电流 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：输入偏置电流 检测样品：电压 比较器 标准：半导体集成电路 电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条

检测项：输入偏置电流 检测样品：电压 比较器 标准：半导体集成电路 电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入偏置电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入电流 检测样品：晶体振荡器 标准：GJB 1648-1993 晶体振荡器总规范

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

国网北京市电力公司电力科学研究院

检测项：交流工频输入量基本误差试验（电流、电压基本误差试验） 检测样品：配电自动化终端装置 标准：《远动终端设备》 GB/T13729-2002 《配电网自动化系统远方终端》DL/T 721-2000 《交流采样远动终端技术条件》DL/T 630-1997

检测项：交流工频输入量基本误差试验（频率基本误差试验） 检测样品： 标准：

检测项：交流工频输入量基本误差试验（功率因数基本误差试验） 检测样品： 标准：

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海无委无线电检测实验室有限公司

检测项：频率误差 检测样品：射频微波放大器 标准：《移动通信射频功率放大器通用规范》 SJ 20732—1999 《微波宽带放大器通用规范》 SJ 20427—1994

检测项：谐波电流 检测样品：信息技术设备 标准：《电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）》 GB 17625.1-2012

检测项：连续波射频骚扰 检测样品：信息技术设备 标准：《电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）》 GB 17625.1-2012

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：偏置电流Ibias 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

检测项：测频误差 检测样品：功率放大器 标准：GJB3258-1998 功率放大器通用规范

检测项：瞬时处理带宽 检测样品：功率放大器 标准：GJB3258-1998 功率放大器通用规范

检测项：显示灵敏度 检测样品：功率放大器 标准：GJB3258-1998 功率放大器通用规范

机构所在地：浙江省嘉兴市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：中心频率误差 检测样品：功率放大器 标准：GJB3258-1998通信干扰功率放大器通用规范

检测项：模拟直流电流基本误差 检测样品： 标准：

检测项：输入电流II 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>