中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：DAC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、基准电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：ADC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：输出低电平电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输入低电平 电压 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：输入低电平 电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输入低电平电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 第5.2节

检测项：输入低电平电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出低电平电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输入低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：输入低电平电压 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输出低电平电压 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输入低电平电压 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输入低电平电压 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输入低电平电压 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入低电平电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.3条

检测项：输入低电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1

检测项：输入低电平电流 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.10条

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