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检测项:反向电流 检测样品:发光二极管(LED) 标准:SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》
检测项:峰值发射波长、光谱带宽和光谱功率分布 检测样品:发光二极管(LED) 标准:SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》
检测项:正向电压 检测样品:发光二极管(LED) 标准:SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》
机构所在地:吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项:最大输出电流和功率 检测样品:固定电阻器 标准:GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器 第一部分:总规范
检测项:外观及结构 检测样品:泄漏电流测试仪 标准:SJ/T 11383-2008泄漏电流测量仪通用规范
检测项:泄漏电流 检测样品:耐压测试仪 标准:SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:门极正向峰值功率/峰值电流/峰值电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项:门极平均功率 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项:反向电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:功率消耗 检测样品:电压、电流传感器/变送器 标准:交流电量转换为模拟量或数字信号的电测量变送器 GB/T 13850-1998
检测项:功率消耗 检测样品:微机同期装置(技术性能试验) 标准:自动准同期装置技术条件JB/T 3950-1999
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:电压、电流、功率测试 检测样品:光伏组件 标准:平 面 光 伏 电 池 板UL1703 ISBN 0-7629-0760-6
检测项:额定输入、输出试验 检测样品:并网逆变器 标准:光伏发电并网逆变器技术规范 NB/T32004-2013
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:工作温度下的泄漏电流 检测样品: 标准:《小功率电动机通用技术条件》 GB/T 5171-2002
检测项:温升试验 检测样品:小功率电动机 标准:小功率电动机的安全要求 GB 12350-2009
检测项:绝缘电阻和电气强度 检测样品: 标准:《小功率电动机通用技术条件》 GB/T 5171-2002
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:外观、封印装置检查 检测样品:数字 多用表 标准:GB/T13978-2008《数字多用表》
检测项:不确定度试验 检测样品:数字 多用表 标准:GB/T13978-2008《数字多用表》
检测项:泄漏电流试验 检测样品:继电保护 标准:GB/T 14285-2006 《继电保护和安全自动装置技术规程》
检测项:天线输入端共模干扰电流 检测样品:广播电视、电声设备 标准:声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 9383-2008 EN 55020:2007/A11:2011 CISPR 20:2006
检测项:天线输入端差模干扰 检测样品:广播电视、电声设备 标准:声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 9383-2008 EN 55020:2007/A11:2011 CISPR 20:2006
检测项:电源端、扬声器、耳机、音频信号输出输入端的干扰电压 检测样品:广播电视、电声设备 标准:声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 9383-2008 EN 55020:2007/A11:2011 CISPR 20:2006
检测项:输入电流 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 IEC 60950-1-2005 信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 EN60950-1:2006
检测项:输入功率 检测样品:医用电气设备 标准:医用电气设备 第1部分:安全通用要求GB 9706.1-2007 医用电气设备 第1部分:安全通用要求和基本准则 IEC 60601-1:2005 医用电气设备 第1部分:安全通用要求和基本准则 EN 60601-1:2006
检测项:操作模式功率 (Pom) 检测样品:打印机、传真机 标准:打印机、传真机能效限定值及能效等级GB25956-2010
检测项:输入失调电流IIO 检测样品:半导体集成电路(稳压器) 标准:1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
检测项:输入电流II 检测样品:电子元器件(物理试验) 标准:1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序,方法2009.1 2.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法,方法2068,方法2071
检测项:输入偏置电流(同相)IIb+ 检测样品:半导体集成电路(运算放大器) 标准:1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件