输入动态范围和差模偏置电压检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

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收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输入偏置电流（同相）Ib+ 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

检测项：输入偏置电流（反相）Ib- 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

检测项：输入偏置电流（同相）Ib+ 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

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深圳天祥质量技术服务有限公司科技园经营部

检测项：电快速瞬变脉冲群共模检测样品：广播电视、电声设备标准：声音和电视广播接收机及有关设备的抗扰度限值和测量方法 EN55020:2007 EN55020:2007 + A11:2011 CISPR20:2006

检测项：部分项目检测样品：广播电视、电声设备标准：声音和电视广播接收机及有关设备的抗扰度限值和测量方法EN55020:2007 EN55020:2007 + A11:2011 CISPR20:2006

检测项：电压暂降和短时中断检测样品：额定电流不大于16A的设备标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） IEC 61000-3-2:2005+A1：2008 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN61000-3-2:2006 EN61000-3-2:2006+A

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深圳市中检南方检测有限公司

检测项：天线输入端差模干扰检测样品：广播电视、电声设备标准：声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 9383-2008 EN 55020:2007/A11:2011 CISPR 20:2006

检测项：天线输入端共模干扰电流检测样品：广播电视、电声设备标准：声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 9383-2008 EN 55020:2007/A11:2011 CISPR 20:2006

检测项：电源端、扬声器、耳机、音频信号输出输入端的干扰电压检测样品：广播电视、电声设备标准：声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 9383-2008 EN 55020:2007/A11:2011 CISPR 20:2006

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入偏置电流检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输入偏置电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：共模抑制比检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

检测项：共模输入电压Vicm 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：偏置电流Ibias 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

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四川省电子产品监督检验所/中国赛宝（四川）实验室/四川省软件和信息系统工程测评中心

检测项：输入电压、输出电压和输出电流范围试验检测样品：通信电源设备标准：通信用电源设备通用试验方法 GB/T16821-2007

检测项：浪涌（冲击）（共模/差模）检测样品：TDMA通信系统移动台及辅助设备标准：900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法第一部分：移动台及其辅助设备 YD 1032-2000

检测项：浪涌（冲击）（共模/差模）检测样品：固定无线链路设备及其辅助设备标准：固定无线链路设备及其辅助设备的电磁兼容性要求和测量方法 YD/T1138-2006

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宁波市计量测试研究院（宁波市衡器管理所）

检测项：电源电压变化检测样品：电子、电器产品标准：《电磁兼容试验和测量技术电压暂降短时中断和电压变化的抗扰度试验》GB/T17626.11-2008

检测项：电源电压变化检测样品：布氏硬度试样标准：《电磁兼容试验和测量技术电压暂降短时中断和电压变化的抗扰度试验》GB/T17626.11-2008

检测项：共模干扰检测样品：数字温度指示调节仪标准：《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪》GB/T13639-2008

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入偏置电流检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：输入偏置电流检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：输入偏置电流（同相）IIb+ 检测样品：半导体集成电路（电压比较器）标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路

检测项：输入偏置电流（反相）IIb- 检测样品：半导体集成电路（电压比较器）标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路

检测项：输入偏置电流（同相）IIb+ 检测样品：半导体集成电路（运算放大器）标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

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