输入电平范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

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收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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中兴通讯股份有限公司手机检测中心

检测项：最大输入电平检测样品：移动通讯终端标准：《电磁兼容实验和测量技术静电放电抗扰度实验》 GB/T 17626.2-2006

检测项：最大输入电平检测样品：移动通讯终端标准：《移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法》YD/T 1539-2006

检测项：参考性能的最小输入电平检测样品：移动通讯终端标准：《建议对于CDMA2000高速率分组业务终端的最小性能标准》 3GPP2 C.S0033-C Version: 1.0 （2011-1）

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入低电平电流检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输入高电平电流检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输入低电平电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入高电平电流(IIH) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入低电平电流（IIL）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出高电平电压（VOH）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

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浙江省通信产业服务有限公司通信网络设备检测中心

检测项：最大允许输入电平检测样品：直放站标准：900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网数字直放站技术要求和测试方法 YD/T 2355-2011

检测项：自动电平控制（ALC)范围检测样品：直放站标准：900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网数字直放站技术要求和测试方法 YD/T 2355-2011

检测项：输入、输出电压驻波比检测样品：标准：

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中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：TTL 电路测试标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

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北京尊冠科技有限公司

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

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青岛市电子仪表计量检测站

检测项：多射频输入信号最大有用电平检测样品：数字电视液晶显示器标准：数字电视液晶显示器通用规范 SJ/T 11343-2006 数字电视平板显示器测量方法 SJ/T 11348-2006 电视广播接收机红外遥控部

检测项：多射频输入信号最大有用电平检测样品：数字电视液晶显示器标准：数字电视液晶显示器通用规范 SJ/T 11343-2006 数字电视平板显示器测量方法 SJ/T 11348-2006 电视广播接收机红外遥控部分的技术要求和测量方法SJ/T 10514-1994 电视广播接收机测量方法第1部分：一般考虑射频和视频电性

检测项：骚扰功率检测样品：电工电子产品电磁兼容标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB17625.1-2003/ IEC61000-3-2:2001

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成接口电路线电路标准：SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理

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中兴通讯股份有限公司手机联合测试实验室

检测项：最大输入电平检测样品：移动通信终端标准：3GPP TS 34.122 V10.0.0 Release 10(2011.12) 终端一致性规范；无线发射和接收(TDD)

检测项：最大输入电平检测样品：移动通信终端标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：最大输入电平检测样品：移动通信终端标准：3GPP TS 36.521-1 V10.0.0 Release 10 (2011.12) 演进通用陆地无线接入(E-UTRA)；用户设备(UE)一致性规范；无线电发射和接收；第1部分：一致性测试

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熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

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中兴通讯股份有限公司手机检测中心

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

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浙江省通信产业服务有限公司通信网络设备检测中心

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