输入电平适应范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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湖北省计量测试技术研究院

检测项：电源电压适应性范围检测样品：视频入侵报警器标准：视频入侵报警器 GB15207-1994

检测项：电源电压适应范围检测样品：振动入侵探测器标准：振动入侵探测器 GB/T10408.8-2008

检测项：输入功率范围、输出功率范围、最大总输出功率和工作波长范围（分立式RFA）检测样品：喇曼光纤放大器标准：喇曼光纤放大器技术条件 GB/T 20184-2006

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西安微电机研究所微电机实验室

检测项：惯量适应范围检测样品：交流伺服系统* 标准：交流伺服系统通用技术条件 GB/T16439－2009

检测项：开路输入阻抗检测样品：感应移相器* 标准：感应移相器通用技术条件 JB/T6225－1992

检测项：使用频率范围检测样品：感应移相器* 标准：感应移相器通用技术条件 JB/T6225－1992

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湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

检测项：电源电压适应范围检测样品：车辆防盗报警系统标准：车辆防盗报警系统小客车 GA 2-1999

检测项：输入输出电平检测样品：声频功率放大器※ 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件 SJ/T 10406-1993

检测项：最大输入电平检测样品：声频功率放大器标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993

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中国电子科技集团公司第21研究所微特电机产品质量监督检验中心

检测项：惯量适应范围检测样品：交流伺服系统标准：交流伺服系统通用技术条件 GB/T16439-1996

检测项：惯量适应范围检测样品：交流伺服系统标准：交流伺服系统通用技术条件GB/T16439-2009

检测项：输入功率检测样品：小型交流风机标准：小型交流风机通用技术条件GB/T2658-1995

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国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

检测项：最大输入电平检测样品：蓝牙设备标准：蓝牙HFP1.5测试规范 V1.5.10

检测项：EDR 最大输入电平检测样品：蓝牙设备标准：蓝牙PBAP测试规范 V1.0.5

检测项：高输入电平下的误码率检测样品：无线寻呼系统标准：GB/T15938-1995《无线寻呼系统设备总规范》

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入低电平电压检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入高电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

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北京振兴计量测试研究所

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输入电流检测样品：标准：

检测项：湿热试验检测样品：红外目标模拟器标准：军用设备实验室环境试验方法：湿热试验； GJB150.9A－2009

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上海精密计量测试研究所

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

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