输入频率变化范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

熔点范围
熔点

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

检测项：DC/DC变换器输入电流Ii 检测样品：晶体谐振器标准：SJ2052-1982 《30兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法》

检测项：频率变化检测样品：军工航空机载用电设备标准：GJB181A-2003《飞机供电特性》

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武汉网锐实验室(信息产业光通信产品质量监督检验中心)

检测项：输入光功率范围检测样品：综合复用设备标准：YDN 010-1998 光缆线路自动监测系统技术条件（暂行规定）

检测项：温度迅速变化检测样品：低频连接器标准：YD/T 641-93 通信用低频连接器技术要求和检验方法

检测项：时间同步输入功能检查检测样品：时间同步设备标准：YD/T 2022-2009时间同步设备技术要求 YD/T 1267-2003基于SDH传送网的同

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：共模输入电压范围检测样品：CMOS集成电路标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：共模输入电压范围检测样品：RF器件标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：D/A数字输入高电平电压检测样品：CMOS集成电路标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分数字集成电路

检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：数字集成电路标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分数字集成电路

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西安通和电信设备检测有限公司无线通信实验室

检测项：射频输入动态范围检测样品：数字直放站标准：900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网数字直放站技术要求和测试方法 YD/T 2355-2011

检测项：Tx频率范围检测样品：电话机标准：自动电话机技术条件 GB/T 15279-2002

检测项：收信动态范围检测样品：SCDMA无线接入系统 (设备) 标准：400/1800MHz SCDMA无线接入系统：频率间隔为500KHz的系统技术要求 YD/T 1487-2006 400/1800MHz SCDMA无线接入系统：频率间隔为500KHz的系统测试方法 YD/T 1488-2006

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北京长城电子装备有限责任公司环境与可靠性检测中心

检测项：联合试验（可靠性试验）检测样品：军用设备及电工电子产品标准：GJB899A-2009《可靠性鉴定和验收试验》

检测项：联合试验（可靠性试验）检测样品：军用设备及电工电子产品标准：GB/T 12165-1998《盒式磁带录音机可靠性要求和试验方法》

检测项：联合试验（环境应力筛选）检测样品：军用设备及电工电子产品标准：GJB1032-90《电子产品环境应力筛选方法》

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北京自动化控制设备研究所惯控实验中心

检测项：环境应力筛选方法检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件标准：只测：工作室容积： ≤2m3，温度范围： (-60～+130)℃ 温度变化率：（-45～+85）℃ ≤10℃/min；工作室容积： ≤1.3m3 温度范围： (-70～+130)℃，温度变化率：（-55～+85）℃时 ≤15℃/min；均方根

检测项：可靠性鉴定和验收试验检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件标准：只测：容积： ≤2m3，温度范围： (-60～+130)℃，温度变化率：（-45～+85)℃ ≤10℃/min，湿度范围：（+20～+60）℃，（10%～98%）RH 均方根加速度： ≤35g；最大位移：50.8mm (p-p), 推力：随

检测项：可靠性增长试验检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件标准：只测：容积： ≤2m3，温度范围： (-60～+130)℃，温度变化率：（-45～+85)℃ ≤10℃/min，湿度范围：（+20～+60）℃，（10%～98%）RH 均方根加速度： ≤35g；最大位移： 50.8mm (p-p), 推力：随

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捷普科技（上海）有限公司产品验证实验室

检测项：温度变化检测样品：电子电气产品（环境试验）标准：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化 GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009

检测项：正弦振动检测样品：电子电气产品（环境试验) 标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc：振动(正弦) GB/T 2423.10—2008 IEC 60068-2-6:2007

检测项：随机振动检测样品：信息技术设备标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则 GB/T 2423.56-2006 IEC 60068-2-64:2008

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上海同耀通信技术有限公司

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度检测样品：电子产品（电磁兼容）标准：电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.29-2006

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度检测样品：电子产品（电磁兼容）标准：电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 IEC 61000-4-29:2000

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度检测样品：电子产品（电磁兼容）标准：电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.29-2006

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北京市电子产品质量检测中心

检测项：输入频率检测样品：信息技术设备用不间断电源标准：信息技术设备用不间断电源通用技术条件 GB/T 14715—1993

检测项：交流电压测量信号的频率范围检测样品：电子式水处理器标准：电子式水处理器技术条件 HG/T 3133—2006

检测项：电源频率变化的容差检测样品：声频放大器标准：声系统设备第3部分：声频放大器测量方法 GB/T 12060.3—2011

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