信息技术设备中电压波动和闪烁的检测

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：电压比较器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输出纹波电压 检测样品： 标准：

检测项：输出电压 检测样品：电压 调整器 标准：GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路采样/保持放大器 标准：GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 （GB 3834-1983）

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输出低电平电压（VOL） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出峰峰电压(VO+,VO-) 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：输出电压 （VO） 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>