深圳市卓时检测技术有限公司

检测项：部分项目 检测样品：声音和电视广播接收机及有关设备 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电骚扰特性限值和测量方法：GB13837-2012，CISPR13:2009，EN 55013:2001+A1:2003+A2:2006，AS/NZS CISPR13:2012

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深圳市华标检测技术服务有限公司

检测项：交流输出端子骚扰电压 检测样品：不间断电源设备（UPS） 第2部分：电磁兼容性（EMC）要求 标准：不间断电源设备（UPS） 第2部分：电磁兼容性（EMC）要求 GB 7260.2-2009； 不间断电源设备（UPS） 第2部分：电磁兼容性（EMC）要求 IEC 62040-2:2005； 不间断电源设备（UPS） 第2部分：电磁兼容性（EMC）要求

检测项：输出电压/电流测试 检测样品：电源变压,电源供应器类 标准：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全.第一部分：通用要求和实验 GB 19212.1-2008 IEC 61558-1:2009 EN 61558

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广州市腾安产品测试服务有限公司

检测项：无负载输出电压 检测样品：管形荧光灯用交流电子镇流器 标准：灯的控制装置　第2-3部分：荧光灯用交流电子镇流器的特殊要求 GB19510.4-2009 IEC 61347-2-3:2000+ A1:2004+ A2:2006 IEC 61347-2-3:2011 EN 61347-2-3:2001+ A1:2004

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东莞市冠准检测技术有限公司

检测项：无负载输出电压 检测样品：灯的控制装置：钨丝灯用直流/交流电子低电压转换器 标准：IEC 61347-2-2:2000+A1+A2 EN 61347-2-2:2001+A1+A2 IEC 61347-2-2:2011 EN 61347-2-2:2012 GB 19510.3-2009 《灯的控制装置：第2-2部分:钨丝灯用直流或交

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国网青海省电力公司电力科学研究院

检测项：功能 检测样品：智能电能表 标准：多费率电能表 特殊要求 GB/T 15284-2002 多功能电能表通信协议DL/T 645-2007 0.2S级智能电能表技术规范 Q/GDW 357-2009 0.5S级智能电能表技术规范 Q/GD

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上海泰捷通信技术有限公司测试中心

检测项：射频输出功率 检测样品：2.4GHz无线数据传输设备（电磁兼容） 标准：电磁兼容和频谱;宽带传输系统;运用宽频调制技术且工作在2.4G的数据传输终端 ;包括R&TTE 3.2节基本要求的EN协调标准 ETSI EN 300 328 V1.8.1 (2012-06）

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北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：输出电压 检测样品：充电器 标准：1、《移动通信终端电源适配器及充电/数据接口技术要求和测试方法》YD/T 1591-2009 2、《移动通信设备安全要求和试验方法》GB15842-1995 3、《家用和类似用途电器的安全 电池充电器的特殊要求》GB4706.18-2005 4、《电动汽车

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厦门通士达照明有限公司检测实验室

检测项：部分项目 检测样品：管形荧光灯用交流电子镇流器 标准：灯的控制装置 第1部分 一般要求和安全要求 GB 19510.1-2009/IEC 61347-1:2007 灯的控制装置 第4部分 管形荧光灯用交流电子镇流器的特殊要求

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天祥公证行有限公司-消费及商用电子电气

检测项：部分项目 检测样品：声音和电视广播接收机及有关设备 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电干扰特性限值和测量方法 EN 55013: 2001+A1+A2

检测项：部分项目 检测样品：影音产品 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电骚扰特性限值和测量方法 CISPR13：2001+A1 CISPR13：2006（EN 55013：2001+A1）

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

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