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检测项:输出电压 检测样品:手持机用锂离子电源充电器 标准:移动通信手持机用锂离子电源充电器 GB/T 21544-2008
检测项:输出电压纹波 检测样品:手持机用锂离子电源充电器 标准:移动通信手持机用锂离子电源充电器 GB/T 21544-2008
检测项:输出声压级 检测样品:室内电话机插头座 标准:室内电话机插头座 YD/T 577-1992
机构所在地:江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G 方法3006.1
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.7条
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000 第5.8条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:最大输出电压 检测样品:自整角机 标准:自整角机通用技术条件GB/T13138-2008
检测项:最大输出电压或变压比 检测样品:自整角机 标准:自整角机通用规范GJB788A-1999
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:相序滤波器输出电压 检测样品:继电器及继电保护装置 标准:继电保护和安全自动装置基本试验方法 GB/T 7261-2008
检测项:输出纹波 检测样品:过程测量和控制装置 标准:过程测量和控制装置通用性能评定方法和程序 第3部分:影响量影响的试验 GB/T 18271.3-2000 IEC 61298-3:2008
检测项:输出负载影响 检测样品:过程测量和控制装置 标准:过程测量和控制装置通用性能评定方法和程序 第3部分:影响量影响的试验 GB/T 18271.3-2000 IEC 61298-3:2008
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:次级输出电压 检测样品:点火线圈 标准:ISO 16232.10:2007道路车辆.液压管路部件 第10部分:结果表示
检测项:次级输出电压 检测样品:点火线圈 标准:ISO 4407:2002 液压传动.液压液污染.用光学显微镜计数法测定粒状物污染
检测项:次级输出电压 检测样品:点火线圈 标准:QC/T 16-92 点火线圈通用技术条件
机构所在地:浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项:输出逻辑电压电平 检测样品:电磁继电器 标准:GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
检测项:输入电压变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项:输入电流变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项:频率偏差测量 检测样品:电能质量 标准:GB/T 15945-2008 《电能质量 电力系统频率偏差》
检测项:直流输出电压 检测样品:通信用直流---直流变换设备 标准:通信用高频开关电源系统 YD/T 1058-2007
检测项:直流输出电压 检测样品:通信用电源系统 标准:通信用高频开关电源系统 YD/T 1058-2007
检测项:直流输出电压 检测样品:通信用电源模块/ 通信用电源设备 标准:通信用直流---直流变换设备 YD/T 637-2006 通信用高频开关整流器 YD/T 731-2008 通信用逆变设备 YD/T 777-2006 通信用高频开关电源系统 YD/T 1058-2007