广东惠晟检验科技有限公司

检测项：基准镇流器-基准灯组合的光输出 检测样品：微型计算机 标准：GB 28380-2012 微型计算机能效限定值及能效等级

检测项：被测镇流器-基准灯组合的光输出 检测样品：微型计算机 标准：GB 28380-2012 微型计算机能效限定值及能效等级

检测项：用基准镇流器实测到的灯功率 检测样品：微型计算机 标准：GB 28380-2012 微型计算机能效限定值及能效等级

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：基准电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

检测项：基准电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

检测项：输出噪声电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

国家高电压计量站

检测项：最高输出电压 检测样品：绝缘油介电强度测试仪 标准：《高电压测试设备通用技术条件第7部分：绝缘油介电强度测试仪》 DL/T846.7-2004

检测项：输出电压的纹波试验 检测样品：高压谐振试验装置 标准：《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分：高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004

检测项：输出电压的短时稳定性试验 检测样品：高压谐振试验装置 标准：《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分：高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

深圳市华测检测技术股份有限公司

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：低压电源供电,直流输出 标准：低压电源供电,直流输出--3部分EMC EN61204-3:2000

检测项：辐射发射 检测样品：低压电源供电,直流输出 标准：低压电源供电,直流输出--3部分EMC EN61204-3:2000

检测项：静电放电抗扰度 检测样品：低压电源供电,直流输出 标准：低压电源供电,直流输出--3部分EMC EN61204-3:2000

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

北京东方计量测试研究所

检测项：负载输出电压和输出电流 检测样品：电子变压器、电源装置和类似产品 标准：GB 19212.1-2008 电力变压器、电源装置和类似产品的安全 第1部分：通用要求和试验

检测项：负载输出电压和输出电流 检测样品：电子变压器、电源装置和类似产品 标准：GB 19212.1-2008 电力变压器、电源装置和类似产品的安全 第1部分：通用要求和试验

检测项：输出电压特性 检测样品：家用和类似用途设备安全 标准：GB 4706.1-2007 家用和类似用途电器的安全 第一部分：通用要求

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

广东产品质量监督检验研究院认证与测量工程部

检测项：电压 检测样品：基准镇流器 标准：CEST/CAL/GF057-2010基准镇流器检测规范

检测项：电压 检测样品：基准镇流器 标准：CEST/CAL/GF057-2010

检测项：交流电压 检测样品：荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪 标准：CEST/CAL/GF062-2010荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪检测规范

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：输出高电平电压和输出低电平电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：输出高电平电压和输出低电平电压 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第2部分： 数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：输出高电平电压和输出低电平电压 检测样品：FPGA现场可编程器件 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：基准电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：基准电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输出高电平电压 检测样品：数字集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

陕西千山航空电子有限责任公司检测中心

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

国网计量中心

检测项：电压基准试验 检测样品：压敏电阻 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合 GB/T2423.102-2008 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 电子设备用压敏电阻器安全要求 SJ11267-2002

检测项：输出电压的短时稳定性试验 检测样品：高压谐振试验装置 标准：电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分：高压谐振试验装置 DL/T 849.6-2004

检测项：输出电压的纹波试验 检测样品：高压谐振试验装置 标准：电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分：高压谐振试验装置 DL/T 849.6-2004

机构所在地：北京市 更多相关信息>>