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检测项：输出短路电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：输出短路电流 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：高电平输出电流 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项：输出短路电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：电子式绝缘电阻表 标准：《电阻测量装置通用技术条件第1部分：电子式绝缘电阻表》 DL/T845.1-2004
检测项：短路承受能力试验（PT） 检测样品：组合互感器 标准：《电流互感器》 GB1208-2006 《电力用电流互感器订货技术条件》 DL/T725-2000 《电磁式电压互感器》 GB1207-2006 《电力用电压互感器订货技术条件》 DL/T726-2000 《组合互感器》GB1
检测项：耐短路、开路 检测样品：电子式绝缘电阻表 标准：《电阻测量装置通用技术条件第1部分：电子式绝缘电阻表》 DL/T845.1-2004
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：输出高电平电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：输出低电平电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项：输出高阻态电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：电子式绝缘电阻表 标准：电阻测量装置通用技术条件第1部分：电子式绝缘电阻表 DL/T 845.1-2004
检测项：短路承受能力试验（PT） 检测样品：组合互感器 标准：电流互感器 GB 1208-2006 电力用电流互感器订货技术条件 DL/T 725-2000 电磁式电压互感器 GB 1207-2006 电力用电压互感器订货技术条件 DL/T 726-2000 组合互感器 GB
检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品：厂站采集终端 标准：《电磁兼容电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验》 GB/T 17626.11—2008
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：沉降体积比 检测样品：药品 标准：《中国药典》2010年版二部附录I G；ＩＯ；ＩＱ；I R；
机构所在地：黑龙江省哈尔滨市 更多相关信息>>
检测项：部分项目 检测样品：电力变压器、电源、电抗器和类似产品 标准：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第1部分：通用要求和试验 GB 19212.1-2008 E
检测项：部分项目 检测样品：开关式 供电用 安全变压器 标准：电力变压器,供电设备及类似设备的安全.第2-16部分:开关式供电用安全变压器的特殊要求 EN 61558-2-16:2009
检测项：部分项目 检测样品：安全隔离变压器和内装安全隔离变压器的电源装置 标准：电源电压为1 100V及以下的变压器、电抗器、电源装置和类似产品的安全 第7部分：安全隔离变压器和内装安全隔离变压器的电源装置的特殊要求和试验 GB 19212.7-2012 EN 61558-2-6:2009 IEC 61558-2-6:2009 AS/
机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：输出短路电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 《半导体集成电路总规范》 GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》
检测项：栅-源短路时的漏极电流 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管
机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>
