纸包绕组线中柔韧性的检测

检测项：柔韧性 检测样品：纸包绕组线 标准：GB/T 7673.1-2008《纸包绕组线 第1部分：一般规定》

检测机构：国家电线电缆质量监督检验中心 更多相关信息>>

SMC组合式水箱中部分项目的检测

检测项：部分项目 检测样品：SMC组合式水箱 标准：JC/T658.1-2007《玻璃纤维增强塑料水箱 第1部分：SMC组合式水箱》

检测机构：玻璃钢制品质量检验中心 更多相关信息>>

体外诊断检验系统 性能评价方法 第3部分：检出限与定量限中全项目的检测

检测项：全项目 检测样品：体外诊断检验系统 性能评价方法 第3部分：检出限与定量限 标准：YY/T1789.3-2022 体外诊断检验系统 性能评价方法 第3部分：检出限与定量限

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出高电平（输出部分）VOH 检测样品：固定电阻器 标准：《电子设备用固定电阻器第一部分：总规范》GB/T 5729-2003

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：存储器 标准：《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出高电平VOH 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：高电平输出电压Voh 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：高电平输出电压Voh 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输出高电平电压（VOH） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出低电平电压（VOL） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出短路电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输出电流 检测样品： 标准：

检测项：输出纹波电压 检测样品： 标准：

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压Voh 检测样品：D/A转换器 标准：SJ2480-1984 混合集成电路数字-模拟、模拟-数字转换器静态测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>